Россия
АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
Россия
Воронежская область, Россия
Воронежская область, Россия
Россия
Россия
Россия
Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова
Россия
В статье приведены методика оценки и результаты исследований диодов Шоттки на стойкость для применения в радиоэлектронной аппаратуре. Исследования проводились с целью определения конструктивно-технологических запасов по стойкости. Так же в статье рассмотрены применяемые при исследованиях схемы включения диодов Шоттки для измерения постоянного обратного тока и прямого напряжения диода.
Диоды Шоттки, радиоэлектроника, стойкость, время потери работоспособности, катастрофический отказ
1. Состояние и перспективы разработки радиационно-стойкой элементной базы в ОАО «НИИЭТ» / А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, В. К. Зольников, В. П. Крюков // Петербургский журнал электроники. - 2015. - № 1 (82). - С. 87-90.
2. Современное состояние разработок элементной базы для систем контроля мониторинга / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, В. П. Крюков, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова, К. А. Яковлев, О. Н. Черкасов // Цифровизация агропромышленного комплекса : сборник научных статей. - Тамбов, 2018. - С. 226-228.
3. Адонин, А. С. Карбид-кремниевые диоды Шоттки и высоковольтные выпрямительные столбы для силовой и высокочастотной электроники / А. С. Адонин, А. И. Добровицкий //Электроника и электрооборудование транспорта. - 2006. - № 3-4. - С. 40-42.
4. Беляева, Т. П. Модель оптимального планирования проектов создания изделий микроэлектроники проектов / Т. П. Беляева, А. П. Затворницкий // Программные продукты и системы. - 2011. - № 2. - С. 61-64.
5. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9.
6. Одиночные радиационные эффекты в диодах Шоттки при воздействии тяжелых заряженных частиц / А. С. Ватуев, В. В. Емельянов, В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, Т. А. Максименко, С. А. Яковлев // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2018. - № 1. - С. 17-23.
7. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В. П. Крюков, К. В. Зольников, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44.
8. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60.
9. Методы проектирования микросхем, стойких к одиночным событиям / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 17-20.
10. Зольников, В. К. Моделирование работоспособности микросхем на различных иерархических уровнях описания в САПР / В. К. Зольников, А. Л. Савченко, А. Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 30-39.
