TY  JOUR
TI  Исследование диодов Шоттки на стойкость для применения в радиоэлектронной аппаратуре
KW  Диоды Шоттки
KW  радиоэлектроника
KW  стойкость
KW  время потери работоспособности
KW  катастрофический отказ
JO  Моделирование систем и процессов
AU  Яньков, А.И.
AU  Зольников, К.В.
AU  Кулай, А.Ю.
AU  Савченко, А.Л.
AU  Струков, И.И.
AU  Евдокимова, С.А.
AU  Скворцова, Т.В.
AU  Ягодкин, А.С.
AU  Анциферова, В.И.
AU  Квасов, О.Н.
AU  Панова, Н.А.
AU  Фесикова, О.В.
PY  2019
IS  12
PB  Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова