%0 Journal Article
%T Исследование диодов Шоттки на стойкость для применения в радиоэлектронной аппаратуре
%A Яньков, А.И.
%A Зольников, К.В.
%A Кулай, А.Ю.
%A Савченко, А.Л.
%A Струков, И.И.
%A Евдокимова, С.А.
%A Скворцова, Т.В.
%A Ягодкин, А.С.
%A Анциферова, В.И.
%A Квасов, О.Н.
%A Панова, Н.А.
%A Фесикова, О.В.
%K Диоды Шоттки, радиоэлектроника, стойкость, время потери работоспособности, катастрофический отказ
%J Моделирование систем и процессов
%D 2019
%N 12
%P 5
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова