MODELING OF VLSI ELEMENTS OF CIRCUIT ON LEVEL ON EXPOSURE HCP
Abstract and keywords
Abstract (English):
Considered equivalent circuit for modeling elements rabotosposbnosti VLSI realization of the circuit level. The mathematical relations for this process

Keywords:
CAD, ionization current, local radiation effects
Text

 

Моделирование воздействия ТЗЧ на схемотехническом уровне заключается во внесении в эквивалентную схему замещения дополнительных генераторов тока, ёмкостей, паразитных биполярных транзисторов и резисторов, которые с некоторой частотой включаются в работу [1].

 

Для этого к стандартной модели транзистора КМОП (рис. 1) добавляется генератор тока ионизации () сопротивление подложки между контактом к ней и стоковым p-n переходом (R) и паразитный транзистор (VT).

 

 

Рис. 1. Модель транзистора КМОП с генератором тока ионизации

 

Генератор тока описывается стандартной функцией, имеющейся в пакете Сadence на основе экспоненциальной функции, так как она практически точно повторяет ток ионизации, теоретически описанный в предыдущей главе. Импульс тока экспоненциальной формы условно разбит на три участка, которые соответствуют току ионизации в состоянии «до», «в процессе воздействия ТЗЧ» и «после воздействия ТЗЧ». Тогда генератор тока задается списком параметров EXP (y1, y2, td, tcr, tr, tfr) и соответствует выражению [2]:

 

(1)

 

References

1. Zol´nikov, K. V. Modelirovanie raboty komponentov mikroskhem v usloviyakh vozdeystviya radiatsii v SAPR [Tekst] / K. V. Zol´nikov, Yu. A. Chevychelov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 2. - S. 14-17.

2. Yan´kov, A. I. Rezul´taty issledovaniya sboeustoychevogo protsessora serii 1867 [Tekst] / A. I. Yan´kov, A. V. Achkasov, K. V. Zol´nikov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 4. - S. 72-74.

Login or Create
* Forgot password?