Россия
Россия
Воронежская область, Россия
Россия
Статья посвящена процессу создания микроэлектронных устройств и анализу методов и критериев отбраковки изделий. Рассматриваются процедуры, обеспечивающие высокое качество работ процессов проектирования микросхем и их серийного производства. Приведен результат анализа отечественных и зарубежных патентов на многоядерные процессорные системы.
СБИС 1867ВН016, проектирование, микроэлектроника, эффективность, качество, технологический процесс.
1. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60.
2. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.
3. Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. - С. 71-72.
4. Зольников, В. К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16.
5. Зольников, В.К. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 25-30.
6. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637.
7. Дорошевич, В. К. Требования к системе проектирования микросхем / В. К. Дорошевич // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 5 (94). - С. 32-33.
8. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98.
9. Зольников, К. В. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения / К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 3-4. - С. 20-27.
10. Русанов, А. В. Методы проектирования аналоговых схем в КМОП технологиях с низким напряжением питания / А.В. Русанов, Ю.С. Балашов, В.А. Скляр // Вестник Воронежского государственного технического университета. - 2012. - Т. 8, № 2. - С. 45-50.
11. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48.
