ОПРЕДЕЛЕНИЕ МЕРОПРИЯТИЙ ПО ПРОГРАММЕ ОБЕСПЕЧЕНИЯ КАЧЕСТВА РАБОТ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И СЕРИЙНОГО ПРОИЗВОДСТВА МИКРОСХЕМ И ОЦЕНКА ИХ ЭФФЕКТИВНОСТИ НА ПРИМЕРЕ СБИС 1867ВН016
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
Статья посвящена процессу создания микроэлектронных устройств и анализу методов и критериев отбраковки изделий. Рассматриваются процедуры, обеспечивающие высокое качество работ процессов проектирования микросхем и их серийного производства. Приведен результат анализа отечественных и зарубежных патентов на многоядерные процессорные системы.

Ключевые слова:
СБИС 1867ВН016, проектирование, микроэлектроника, эффективность, качество, технологический процесс.
Список литературы

1. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2004. – № 1-2. – С. 57-60.

2. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. – 2015. – № 1 (10). – С. 40-41.

3. Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. – М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. – С. 71-72.

4. Зольников, В. К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 10-16.

5. Зольников, В.К. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 25-30.

6. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2012. – № 1. – С. 634-637.

7. Дорошевич, В. К. Требования к системе проектирования микросхем / В. К. Дорошевич // Нано- и микросистемная техника. – 2008. – № 5 (94). – С. 32-33.

8. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. – 2014. – № 6. – С. 94-98.

9. Зольников, К. В. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения / К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2010. – № 3-4. – С. 20-27.

10. Русанов, А. В. Методы проектирования аналоговых схем в КМОП технологиях с низким напряжением питания / А.В. Русанов, Ю.С. Балашов, В.А. Скляр // Вестник Воронежского государственного технического университета. – 2012. – Т. 8, № 2. – С. 45-50.

11. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. – 2010. – № 1-2. – С. 41-48.