AO "Nauchno-issledovatel'skiy institut elektronnoy tehniki"
Russian Federation
Russian Federation
Voronezh, Russian Federation
Russian Federation
The article is devoted to the process of creating microelectronic devices and analyzing methods and criteria for product rejection. We consider procedures that ensure high quality of work of chip design processes and their serial production. The result of the analysis of domestic and foreign patents for multi-core processor systems is presented.
VLSI 1867VN016, design, microelectronics, efficiency, quality, technological process
1. Zol'nikov, V. K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V. K. Zol'nikov, V. N. Achkasov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2004. - № 1-2. - S. 57-60.
2. Zol'nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K. V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.
3. Obobschennaya metodika proektirovaniya tehnicheskih blokov vysokonadezhnyh programmno-tehnicheskih kompleksov special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, D.M. Utkin, S.A. Evdokimova, V.I. Anciferova // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost'-2014» : sbornik tezisov dokladov 17-y Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. - M. : Nacional'nyy issledovatel'skiy yadernyy universitet «MIFI», 2014. - S. 71-72.
4. Zol'nikov, V. K. Verifikaciya proektov i sozdanie testovyh posledovatel'nostey dlya proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 10-16.
5. Zol'nikov, V.K. Prakticheskie metodiki vypolneniya verifikacii proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 25-30.
6. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637.
7. Doroshevich, V. K. Trebovaniya k sisteme proektirovaniya mikroshem / V. K. Doroshevich // Nano- i mikrosistemnaya tehnika. - 2008. - № 5 (94). - S. 32-33.
8. Sklyar, V. A. Proektirovanie i ispytaniya mikroshem dlya sistem sbora i obrabotki informacii / V. A. Sklyar, A. V. Achkasov, K. V. Zol'nikov // Radiotehnika. - 2014. - № 6. - S. 94-98.
9. Zol'nikov, K. V. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya / K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 3-4. - S. 20-27.
10. Rusanov, A. V. Metody proektirovaniya analogovyh shem v KMOP tehnologiyah s nizkim napryazheniem pitaniya / A.V. Rusanov, Yu.S. Balashov, V.A. Sklyar // Vestnik Voronezhskogo gosudarstvennogo tehnicheskogo universiteta. - 2012. - T. 8, № 2. - S. 45-50.
11. Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48.
