Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 37761 10.12737/2219-0767-2020-13-1-46-53 Технические науки Технические науки DEFINITION OF MEASURES FOR THE QUALITY ASSURANCE PROGRAM FOR THE DESIGN AND SERIAL PRODUCTION OF CHIPS AND EVALUATION OF THEIR EFFECTIVENESS ON THE EXAMPLE OF VLSI 1867VN016 Определение мероприятий по программе обеспечения качества работ проектирования и серийного производства микросхем и оценка их эффективности на примере СБИС 1867ВН016 Зольников Константин Владимирович Zolnikov Konstantin Vladimirovich Ягодкин Александр Сергеевич Yagodkin A. Sergeevich Евдокимова Светлана Анатольевна Evdokimova Svetlana Anatol'evna

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Скворцова Татьяна Владимировна Skvortsova Tatyana Vladimirovna Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Россия Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Russian Federation Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov 13 1 46 53 https://naukaru.ru/en/nauka/article/37761/view

Статья посвящена процессу создания микроэлектронных устройств и анализу методов и критериев отбраковки изделий. Рассматриваются процедуры, обеспечивающие высокое качество работ процессов проектирования микросхем и их серийного производства. Приведен результат анализа отечественных и зарубежных патентов на многоядерные процессорные системы.

The article is devoted to the process of creating microelectronic devices and analyzing methods and criteria for product rejection. We consider procedures that ensure high quality of work of chip design processes and their serial production. The result of the analysis of domestic and foreign patents for multi-core processor systems is presented.

 СБИС 1867ВН016 проектирование микроэлектроника эффективность качество технологический процесс. VLSI 1867VN016 design microelectronics efficiency quality technological process

Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60. Zol'nikov, V. K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V. K. Zol'nikov, V. N. Achkasov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2004. - № 1-2. - S. 57-60. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41. Zol'nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K. V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41. Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. - С. 71-72. Obobschennaya metodika proektirovaniya tehnicheskih blokov vysokonadezhnyh programmno-tehnicheskih kompleksov special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, D.M. Utkin, S.A. Evdokimova, V.I. Anciferova // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost'-2014» : sbornik tezisov dokladov 17-y Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. - M. : Nacional'nyy issledovatel'skiy yadernyy universitet «MIFI», 2014. - S. 71-72. Зольников, В. К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16. Zol'nikov, V. K. Verifikaciya proektov i sozdanie testovyh posledovatel'nostey dlya proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 10-16. Зольников, В.К. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 25-30. Zol'nikov, V.K. Prakticheskie metodiki vypolneniya verifikacii proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 25-30. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637. Дорошевич, В. К. Требования к системе проектирования микросхем / В. К. Дорошевич // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 5 (94). - С. 32-33. Doroshevich, V. K. Trebovaniya k sisteme proektirovaniya mikroshem / V. K. Doroshevich // Nano- i mikrosistemnaya tehnika. - 2008. - № 5 (94). - S. 32-33. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98. Sklyar, V. A. Proektirovanie i ispytaniya mikroshem dlya sistem sbora i obrabotki informacii / V. A. Sklyar, A. V. Achkasov, K. V. Zol'nikov // Radiotehnika. - 2014. - № 6. - S. 94-98. Зольников, К. В. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения / К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 3-4. - С. 20-27. Zol'nikov, K. V. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya / K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 3-4. - S. 20-27. Русанов, А. В. Методы проектирования аналоговых схем в КМОП технологиях с низким напряжением питания / А.В. Русанов, Ю.С. Балашов, В.А. Скляр // Вестник Воронежского государственного технического университета. - 2012. - Т. 8, № 2. - С. 45-50. Rusanov, A. V. Metody proektirovaniya analogovyh shem v KMOP tehnologiyah s nizkim napryazheniem pitaniya / A.V. Rusanov, Yu.S. Balashov, V.A. Sklyar // Vestnik Voronezhskogo gosudarstvennogo tehnicheskogo universiteta. - 2012. - T. 8, № 2. - S. 45-50. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48. Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48.