Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
В статье рассматриваются современные методики верификации проектирования микросхем: «сверху вниз», «снизу вверх», на основе аппаратной платформе и на основе системного интерфейса. Представлены схемы приведенных выше методик проектирования и верификации. Для оценки качества выполненной верификации целесообразно разработать ее план, который будет описывать необходимые ресурсы и параметры оценки качества проведенных процедур.

Ключевые слова:
Микросхема, проектирование, верификация «сверху вниз», верификация «снизу вверх», верификация на основе аппаратной платформе, верификация на основе системного интерфейса.
Список литературы

1. Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2012. – № 3. – С. 5-8.

2. Совмещенная аппаратно-программная верификация микросхем / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 2. – С. 63-65.

3. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2014. – № 2. – С. 5-9.

4. Зольников, В.К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В.К. Зольников, В.Н. Ачкасов, В.П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2004. – № 1-2. – С. 57-60.

5. Создание схемотехнического и конструктивно-технологического базиса микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, Ю.К. Фортинский, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. – 2017. – Т. 10, № 1. – С. 27-29.

6. Скляр, В.А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников // Радиотехника. – 2014. – № 6. – С. 94-98.

7. Расчет изменения схемотехнических параметров при воздействии низкоинтенсивного излучения факторов космического пространства/ К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.П. Крюков, А.С. Грошев, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. – 2015. – Т. 8, № 3. – С. 33-35.

8. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2012. – № 1. – С. 634-637.

Войти или Создать
* Забыли пароль?