Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 30315 10.12737/article_5d639c80d03ac5.18926339 Технические науки Технические науки PRACTICAL METHODS OF CHIP DESIGN VERIFICATION Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Евдокимова Светлана Анатольевна Evdokimova Svetlana Anatol'evna

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Скворцова Татьяна Владимировна Skvortsova Tatyana Vladimirovna Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov 12 1 25 30 https://naukaru.ru/en/nauka/article/30315/view

В статье рассматриваются современные методики верификации проектирования микросхем: «сверху вниз», «снизу вверх», на основе аппаратной платформе и на основе системного интерфейса. Представлены схемы приведенных выше методик проектирования и верификации. Для оценки качества выполненной верификации целесообразно разработать ее план, который будет описывать необходимые ресурсы и параметры оценки качества проведенных процедур.

В статье рассматриваются современные методики верификации проектирования микросхем: «сверху вниз», «снизу вверх», на основе аппаратной платформе и на основе системного интерфейса. Представлены схемы приведенных выше методик проектирования и верификации. Для оценки качества выполненной верификации целесообразно разработать ее план, который будет описывать необходимые ресурсы и параметры оценки качества проведенных процедур.

 Микросхема проектирование верификация «сверху вниз» верификация «снизу вверх» верификация на основе аппаратной платформе верификация на основе системного интерфейса.

Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - № 3. - С. 5-8. Zol'nikov, V.K. Metodika proektirovaniya sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnyh sobytiy radiacionnogo vozdeystviya / V.K. Zol'nikov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2012. - № 3. - S. 5-8. Совмещенная аппаратно-программная верификация микросхем / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 2. - С. 63-65. Sovmeschennaya apparatno-programmnaya verifikaciya mikroshem / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, I.V. Nagornyy // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 2. - S. 63-65. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K.V. Zol'nikov, V.A. Sklyar, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. - № 2. - S. 5-9. Зольников, В.К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В.К. Зольников, В.Н. Ачкасов, В.П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60. Zol'nikov, V.K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V.K. Zol'nikov, V.N. Achkasov, V.P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2004. - № 1-2. - S. 57-60. Создание схемотехнического и конструктивно-технологического базиса микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, Ю.К. Фортинский, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 1. - С. 27-29. Sozdanie shemotehnicheskogo i konstruktivno-tehnologicheskogo bazisa mikroshem special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, V.P. Kryukov, A.Yu. Kulay, Yu.K. Fortinskiy, I.I. Strukov, M.V. Solodilov // Modelirovanie sistem i processov. - 2017. - T. 10, № 1. - S. 27-29. Скляр, В.А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98. Sklyar, V.A. Proektirovanie i ispytaniya mikroshem dlya sistem sbora i obrabotki informacii / V.A. Sklyar, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov // Radiotehnika. - 2014. - № 6. - S. 94-98. Расчет изменения схемотехнических параметров при воздействии низкоинтенсивного излучения факторов космического пространства/ К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.П. Крюков, А.С. Грошев, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 3. - С. 33-35. Raschet izmeneniya shemotehnicheskih parametrov pri vozdeystvii nizkointensivnogo izlucheniya faktorov kosmicheskogo prostranstva/ K.V. Zol'nikov, V.A. Sklyar, V.P. Kryukov, A.S. Groshev, K.A. Chubur // Modelirovanie sistem i processov. - 2015. - T. 8, № 3. - S. 33-35. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V.N. Achkasov, V.A. Smerek, D.M. Utkin, V.K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637.