СОЗДАНИЕ СРЕДСТВ ПРОВЕРКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ СХЕМЫ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СХЕМЫ ТЕСТОВЫХ ВНЕШНИХ ВОЗДЕЙСТВИЙ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
Рассмотрены основополагающие методы проверки и сохранения электрической схемы. Результат проверки приводится в окне CIW. Описана методика создания создание символа элемента. Продемонстрировано окно «Virtuoso Symbol Editor», показывающее символ ИОН, автоматически сгенерированный «Virtuoso Schematic Editing». Указано, что символ функционален и полностью готов для использования для иных средств моделирования. Произведена настройка генератора символов. Отмечено, что для создания схемы тестовых воздействий важно создать элемент и задать исходные источники напряжения/тока, нагрузочные сопротивления и т.д. В общем случае схема тестовых воздействий содержит: проверяемый элемент (например, ИОН), источники земли и питания, источники постоянного/импульсного напряжения/тока, выходную нагрузку. Решены задачи верификации полной схемы, учитывая паразитные элементы, которые появляются после проектирования топологии СБИС. Оптимизированы блоки электрической цепи и СБИС для заданного температурного диапазона. Отобраны параметры элементов с учетом их технологического разброса для увеличения выхода годных кристаллов. Произведена точная оценка выхода годных кристаллов. Выполнен статистический расчёт надёжности, связанной с состариванием элементов, воздействием внешних факторов, а также, запасом помехоустойчивости и др. Предсказано поведение динамических характеристик и потребляемой мощности, в том числе с учетом влияния корпуса и печатной платы. Отмечено, что настоящей версии КСП для подключения моделей используется гибкий режим, при котором пользователю необходимо выбрать угол моделирования для каждого типа устройств. Для этого в окне ADE выбирается пункт меню Setup, Model Libraries в главном окне ADE и в появившейся форме “Model Library Setup” и задаётся путь к модельному файлу для соответствующего типа устройств в поле “Model Library File”, а также, имя угла

Ключевые слова:
virtuoso schematic editor, создание символа элемента, Check, Save, Генератор, Символ УГО, Environment, models, spectre
Список литературы

1. Зольников, В.К. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС и учет электрофизических эффектов глубоко субмикронного уровня / В.К. Зольников, А.Л. Савченко, А.Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 40-47.

2. Чубур К.А., Струков И.И., Евдокимова С.А., Белокуров В.П., Платонов А.Д., Черкасов О.Н., Зольников К.В. Разработка математических моделей физических процессов в разнородной многослойной структуре при радиационном воздействии// Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 1. – С. 125-133.

3. Ачкасов А.В., Солодилов М.В., Литвинов Н.Н., Чубунов П.А., Зольников В.К., Шеховцов Д.В., Бордюжа О.Л. Особенности проектирования микросхем, выполненных по глубоко-субмикронным технологиям // Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 4. – С. 7-17.

4. Макаренко Ф.В., Ягодкин А.С., Зольников К.В., Денисова О.А., Полуэктов А.В. Обзор логических базисов и микросхем при построении комбинационного устройства с учетом надежности// Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 1. – С. 115-124.

5. Ягодкин А.С., Зольников В.К., Скворцова Т.В., Ачкасов А.В., Кузнецов С.А., Макаренко Ф.В. Разработка алгоритмов и программ анализа электрических характеристик БИС // Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 3. – С. 136-148.

6. Суханов, В.В. Логическое проектирование информационного обеспечения распределенных информационных систем критического применения / В.В. Суханов, О.В. Ланкин // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 2. – С. 67-73. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-2-67-73.

7. Суханов, В.В. Методика логического проектирования информационного обеспечения распределенных информационных систем критического применения / В.В. Суханов, О.В. Ланкин // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 3. – С. 67-73. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-3-67-73.

8. Кроткова Н. А. Программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС) //Научный альманах. – 2020. – №. 9-2. – С. 37-39.

9. Харченко М.Э., Дорохов В.А., Колесников М.И. Оценка влияния структурных особенностей кристалла на стойкость ДМОП транзисторов к ионизирующему излучению // Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 3. – С. 128-136.

10. Камкин А.С., Чупилко М.М., Лебедев М.С., Смолов С.А., Гайдаджиев Г. Сравнение инструментов высокоуровневого синтеза и конструирования цифровой аппаратуры. Труды Института системного программирования РАН. 2022; 34(5):7-22. https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2022-34(5)-1

11. Камкин А.С., Лебедев М.С., Смолов С.А. Поиск конфликтов доступа к данным в HDL-описаниях. Труды Института системного программирования РАН. 2019; 31(3):135-144. https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2019-31(3)-11

12. Иванов А.А., Петров В.Б. Программно-аналитический комплекс САПР для разработки электронных устройств // Электроника и связь, 2017, №2 (56), с. 45-52. 2. Сидоров Д.В., Лебедев Е.Г., Горбунов А.Н

13. Ушенина И. В. Современные направления развития ПЛИС архитектуры FPGA //XXI век: итоги прошлого и проблемы настоящего плюс. – 2017. – №. 4. – С. 120-124.

14. Гаврилов С. В., Железников Д. А., Хватов В. М. Решение задач трассировки межсоединений с ресинтезом для реконфигурируемых систем на кристалле //Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2017. – Т. 22. – №. 3. – С. 266-275.

15. Лебедев М.С., Смолов С.А. Генерация функциональных тестов для HDL-описаний на основе проверки моделей. ТрудыИнститутасистемногопрограммированияРАН. 2016; 28(4):41-56. https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2016-28(4)-3

16. Methodology for designing microcircuits of various levels of CAD description taking into account quality indicators and energy efficient production / K. V. Zolnikov, T. V. Skvortsova, K. Zatorkina, A. Matusevich // E3S Web of Conferences, St. Petersburg, 19–21 сентября 2023 года. Vol. 460. – St. Petersburg: EDP Sciences , 2023. – P. 04021. – DOIhttps://doi.org/10.1051/e3sconf/202346004021. – EDN KWGJFN.

17. Mathematical models of MOS transistors with induced and ion-doped conditions in energy engineering / T. Skvortsova, A. Achkasov, O. Minakova, I. Kochetkov // E3S Web of Conferences, St. Petersburg, 19–21 сентября 2023 года. Vol. 460. – St. Petersburg: EDP Sciences , 2023. – P. 07023. – DOIhttps://doi.org/10.1051/e3sconf/202346007023. – EDN KTPCOE.

18. Structural condition assessment of a single-storey non-residential building / S. Sazonova, S. Nikolenko, V. Zolnikov [et al.] // Proceedings of the V International Scientific Conference on Advanced Technologies in Aerospace, Mechanical and Automation Engineering (MIST: Aerospace-V 2023), Krasnoyarsk, Russian Federation, 03–05 марта 2023 года. Vol. 3102. – Melville, 2024. – P. 020007. – DOIhttps://doi.org/10.1063/5.0199709. – EDN GRFGBT.

19. Shmakov, E.V., Chursin, A.A. (2021). The Development of an Economic-Mathematical Model for the Optimal Distribution of Financial Resources During the Modernization of the Production for Manufacturing of Modern High-Tech Products. In: Bogoviz, A.V., Ragulina, J.V. (eds) Industry Competitiveness: Digitalization, Management, and Integration. ISCI 2019. Lecture Notes in Networks and Systems, vol 280. Springer, Cham. https://doi.org/10.1007/978-3-030-80485-5_42

20. Verification methods for complex-functional blocks in CAD for chips deep submicron design standards / V. K. Zolnikov, K. V. Zolnikov, N. V. Iljina, K. P. Grabovyi // E3S Web of Conferences : International Scientific and Practical Conference “Environmental Risks and Safety in Mechanical Engineering” (ERSME-2023), Rostov-on-Don, Russia, 01–03 марта 2023 года. Vol. 376. – Rostov-on-Don: EDP Sciences, 2023. – P. 01090. – DOIhttps://doi.org/10.1051/e3sconf/202337601090. – EDN XNXOCF.

21. Taghavi Afshord, S. An input variable partitioning algorithm for functional decomposition of a system of Boolean functions based on the tabular method / S. Taghavi Afshord, Yu.V. Pottosin, B. Arasteh // Discrete Applied Mathematics. - 2015. - No. 185. - P. 208-219.

22. Meyer, B. Seven principles of software testing / B. Meyer // Computer. - 2008. - Vol. 41, no. 8. - P. 99-101.

23. FIRRTL. Available at: https://github.com/chipsalliance/firrtl, accessed 02.11.2022.

24. DSLX Reference. Available at: https://google .github.io/xls/dslx_reference, accessed 02.11.2022.

25. Open source VHDL verification methodology. User’s Guide Rev. 1.2 [Electronic resource] / ed. J. Lewis. - Mode of access: http://osvvm.org/downloads. - Date of access: 02.09.2013.

26. Cadence Acquires Software Company, New York Times, April 11, 1990. Article describes Cadence acquiring a printed circuit design software company

Войти или Создать
* Забыли пароль?