Россия
Россия
Россия
УДК 60 Прикладные науки. Общие вопросы
Характер влияния радиации на твердое тело зависит от типа, кинетической энергии, массы и заряда частиц, из которых состоит это излучение, а также от массы, атомного номера и плотности материала. В статье рассмотрены вопросы, связанные с физическими моделями воздействия ионизирующих излучений космического пространства на узлы аппаратуры космических аппаратов.
Взаимодействие вещества, электронно-дырочные пары, ионизационные дефекты, высокоэнергетический фотон, МОП-транзистор
1. Соловьев, А.В. Конструктивно-технологические методы улучшения электрических характеристик радиационно стойких микросхем в условиях серийного производства / А.В. Соловьев // Наноиндустрия. - 2020. - № S96-2. - С. 712-716. - DOI:https://doi.org/10.22184/1993-8578.2020.13.3s.712.716
2. Создание базиса для микросхем сбора и обработки данных / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, И.И. Струков, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 2. - С.66-71. - DOI:https://doi.org/10.12737/article_5b57795062f199.54387613
3. Анализ качества проектирования блоков ОЗУ в составе микропроцессорных систем с обеспечением минимальной сбоеустойчивости / В.К. Зольников, Ю.А. Чевычелов, В.В. Лавлинский, А.В. Ачкасов, А.В. Толкачев, О.В. Оксюта // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 47-55. -DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-12-4-47-55
4. Анализ проектирования блоков RISC-процессора с учетом сбоеустойчивости / В.К. Зольников, А.С. Ягодкин, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 56-65. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-12-4-56-65
5. Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 39-45. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-13-1-39-45
6. Определение мероприятий по программе обеспечения качества работ проектирования и серийного производства микросхем и оценки их эффективности на примере СБИС 1867ВН016 / К.В. Зольников, А.С. Ягодкин, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 46-53. -DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-13-1-46-53
7. Оценка воздействия ионизирующих излучений на электронные компоненты по результатам испытаний ограниченных выборок / М.М. Венедиктов, Е.С. Оболенская, В.К. Киселев, С.В. Оболенский // Журнал радиоэлектроники. - 2017. - № 1. - С. 7.
8. Комбаев, Т.Ш. Проектирование радиационной защиты комплекса научной аппаратуры космического аппарата дистанционного зондирования Земли / Т.Ш. Комбаев, М.Е. Артемов, И.В. Зефиров // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2019. - № 5 (89). - С. 6. - DOI:https://doi.org/10.18698/2308-6033-2019-5-1878
9. Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева, Е.А. Маклакова, А.А. Илунина // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 53-58. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-13-3-53-58
10. Журавлева, И.В. Основные факторы ионизирующих излучений космического пространства, действующие на микросхемы / И.В. Журавлева // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 3. - С. 11-16. -DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2019-12-3-11-16
11. Challenges and approaches to radiation hardness control of electronic components to in-space high-energy particles exposure / V. Anashin, P. Chubunov, A. Koziukov, A. Konyukhov, G. Protopopov // Proceedings - 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics, ISHCE 2018. 20. - 2018. - Pp. 31-34. - DOI:https://doi.org/10.1109/ISHCE.2018.8521206
12. Recent advances in beam monitoring during see testing on ISDE&JINR heavy ion facilities / V.S. Anashin, P.A. Chubunov, S.V. Mitrofanov, A.T. Isatov // INTERNATIONAL BEAM INSTRUMENTATION CONFERENCE (IBIC2018). - 2019. - С. 36-39. - DOI:https://doi.org/10.18429/JACoW-IBIC2018-mopa06
