Россия
Россия
Воронежская область, Россия
Россия
Россия
В статье описана микросхема, предназначенная для аттестации КМОП технологии производства РС БИС на КНС структурах. Рассмотрены ее общие и технические характеристики. Приведено описание и обоснование конструкции, содержащей транзисторы, соединение которых переменными слоями коммутации позволяет реализовать библиотечные элементы. Рассмотрена библиотека элементов базового матричного кристалла: ее состав и особенности разработки. Приведены формулы для расчета задержки сигнала бистабильным элементом и оценки длительности фронта реакции элемента на его выходе.
Базовый матричный кристалл, элементы входа-выхода (PAD), библиотека элементов БМК, технология КНС, задержка элемента, длительность фронта.
1. Конструкция и технология микросхем космического назначения / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. В. Гречаный // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов научной конференции. - Тамбов, 2018. - С. 229-232.
2. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. -2014. -№ 2. -С. 5-9.
3. Зольников, В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 27-30.
4. Лавлинский, В. В. Научные основы синтеза виртуальной реальности для проектируемой электронной компонентной базы специального назначения при воздействии тяжелых ядерных частиц : монография / В.В. Лавлинский, В.К. Зольников - Воронеж, 2016. - 256 с.
5. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро-и наноэлектронных систем (МЭС). -2012. - № 1. -С. 634-637.
6. Условия эксплуатации нового поколения микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, М.В. Конарев, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 1. - С. 23-26.
7. Яньков, А. И. Методы испытаний современных СБИС / А. И. Яньков, В. К. Зольников, В. Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69.
8. Скляр, В.А. Совмещенная аппаратно-программная верификация микросхем / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 2. - С. 63-65.
9. Оценка адекватности моделирования воздействия тяжелых заряженных частиц на микросхемы / К.В. Зольников, А.И. Яньков, К.А. Чубур, А.С. Грошев, А.Л. Савченко // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 4. - С. 10-12.
10. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ И 1830ВЕ32У / А.И. Яньков, В.А. Смерек, В.П. Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 92-95.
