Россия
Россия
Россия
В статье рассматриваются методы и технологии тестирования микросхем с использование тестовых кристаллов и описана структура таких кристаллов, разработанных в виде микросхемы для проведения исследований. Представлены схемы блока проверки элементов ввода-вывода, блока проверки элементов ядра и блока кольцевых генераторов, а также схемы ряда кольцевых генераторов.
Кристаллы БМК, блоки тестового кристалла, блок проверки элементов ввода-вывода, блок проверки элементов ядра, блок кольцевых генераторов, кольцевой генератор
1. Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. -Т . 11, № 4. -С. 20-25.
2. Зольников, В.К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16.
3. Зольников, К.В. Основы построения средств верификации блоков ОЗУ микропроцессора с системой команд TMS320C50 / К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 1-2. - С. 31-35.
4. Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 39-45.
5. Зольников, В. К. Модель накопления заряда в диэлектрике паразитного транзистора КМОП структуры / В.К. Зольников // Информационные технологии моделирования и управления. - 2009. - № 1 (53). - С. 63-67.
6. Зольников, В.К. Моделирование сбора заряда при воздействии тяжелых заряженных частиц в КМОП элементах микросхем / В.К. Зольников, И.П. Потапов, К.И. Таперо // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2010. - № 1. - С. 275-278.
7. Результаты экспериментальных исследований микросхем ИС 1882ВЕ53У, 1882ВЕ53УМ и 1830ВЕ32У на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц / В.П. Крюков, А.И. Яньков, В.Г. Калинин, В.А. Смерек // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 4. - С. 41-44.
8. Яньков, А.И. Разработка алгоритмического обеспечения для проведения испытаний микроконтроллеров / А.И. Яньков, М.А. Онищенко // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 70-72.
9. Арзамасцев, М.Ю. Анализ стойкости к ТЗЧ радиационно-стойкого микроконтроллера 1874BE10T, выполненного по отечественной технологии 0.25 мкм / М.Ю. Арзамасцев, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 4-9.
10. Зольников, К. В. Математическая модель оценки показателей надежности сложных программно-технических комплексов / К.В. Зольников, Д.М. Уткин, Ю.А. Чевычелов // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 21-26.
