Россия
Воронежская область, Россия
Россия
Статья рассматривает вопросы контроля надежности при разработке микросхем. Приводится схема контроля надежности, которая предназначена для анализа состояний мажорирующих элементов и учета сбоев. В работе описываются отбраковочные испытания, последовательность их проведения, а так же представлен результат анализа методов и условий проведения испытаний.
Микросхемы, надежность, проектирование, интерфейс, отбраковочные испытания.
1. Конструкция и технология микросхем космического назначения / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. В. Гречаный // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях: сборник трудов научной конференции. - Тамбов: ТГТУ, 2018. - С. 229-232.
2. Яньков, А.И. Методы испытаний современных СБИС / А.И. Яньков, В.К. Зольников, В.Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69.
3. Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. - С. 71-72.
4. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 25-30.
5. Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС / М. Горлов, А. Строгонов, С. Арсентьев, В. Емельянов, В. Плебанович // Технологии в электронной промышленности. - 2006. - № 1 (7). - С. 70-75.
6. Ачкасов, В.Н. Обобщенный критерий надежности интегральных схем и методы защиты от одиночных сбоев в цифровых устройствах на стадии проектирования / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. - 2012. - № 76. - С. 387-398.
7. Попов, В. Д. Подход к прогнозированию надежности интегральных микросхем при радиационном воздействии / В.Д. Попов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2011. - № 1. - С. 9-11.
8. Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК028 / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Е.В. Грошева, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12,№ 4. - С. 37-41.
9. Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК035 / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Е.В. Грошева, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. -Т. 12, № 4. - С. 42-46.
