Обзор программ для САПР субмикронных СБИС и учет электрофизических эффектов глубоко субмикронного уровня
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
В статье рассматриваются характеристики и функции современных систем автоматизированного проектирования субмикронных СБИС. Основными фирмами-разработчиками систем данного класса являются Cadence Design Systems, Mentor Graphics и Synopsys. Проанализированы электрофизические эффекты субмикронного уровня, которые необходимо учитывать при разработке СБИС.

Ключевые слова:
Системы автоматизированного проектирования (САПР), СБИС, Cadence Design Systems, Mentor Graphics, Synopsys, электрофизические эффекты, глубоко субмикронный уровень.
Список литературы

1. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС / В.А. Скляр, К.В. Зольников, В.В. Лавлинский, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 2. – С. 72-76.

2. Обзор средств САПР для субмикронных СБИС / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный, В.В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 1. – С. 60-64.

3. Лисяк, В. В. Программные продукты САПР устройств с программируемой логикой / В. В. Лисяк, Н. К. Лисяк // Известия ЮФУ. Технические науки. – 2014. – № 7 (156). – С. 93-101.

4. EDA Tools and IP for System Design Enablement | Cadence. – Режим доступа: https://www.cadence.com/. – Загл. с экрана.

5. Mentor, a Siemens Business, leads in electronic design automation software – Mentor Graphics. – Режим доступа: https://www.mentor.com/. – Загл. с экрана.

6. Synopsys. – Режим доступа: https://www.synopsys.com/. – Загл. с экрана.

7. Скляр, В. А. Учет электрофизических эффектов субмикронного уровня при проектировании современных СБИС / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 3. – С. 42-44.

8. Исследование влияния разброса технологических параметров СБИС на стойкость к эффектам накопленной дозы радиации с помощью средств приборно-технологического моделирования / А.В. Селецкий, Н.А. Шелепин, А.А. Смолин, А.В. Уланова // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2016. – № 4. – С. 178-183.

9. Гаврилов, С. В. Методы ускоренной характеризации библиотек элементов СБИС с контролем заданной точности / С. В. Гаврилов, О. Н. Гудкова, Ю. Б. Егоров // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2010. – № 3 (83). – С. 51-60.

10. Характеризация и моделирование сигналов в САПР / В. А. Скляр, В. К. Зольников, А. И. Яньков, Ю. А. Чевычелов, В. Ф. Барабанов // Моделирование систем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 1. – С. 62-67.

Войти или Создать
* Забыли пароль?