Россия
В статье рассматриваются характеристики и функции современных систем автоматизированного проектирования субмикронных СБИС. Основными фирмами-разработчиками систем данного класса являются Cadence Design Systems, Mentor Graphics и Synopsys. Проанализированы электрофизические эффекты субмикронного уровня, которые необходимо учитывать при разработке СБИС.
Системы автоматизированного проектирования (САПР), СБИС, Cadence Design Systems, Mentor Graphics, Synopsys, электрофизические эффекты, глубоко субмикронный уровень.
1. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС / В.А. Скляр, К.В. Зольников, В.В. Лавлинский, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 2. - С. 72-76.
2. Обзор средств САПР для субмикронных СБИС / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный, В.В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 60-64.
3. Лисяк, В. В. Программные продукты САПР устройств с программируемой логикой / В. В. Лисяк, Н. К. Лисяк // Известия ЮФУ. Технические науки. - 2014. - № 7 (156). - С. 93-101.
4. EDA Tools and IP for System Design Enablement | Cadence. - Режим доступа: https://www.cadence.com/. - Загл. с экрана.
5. Mentor, a Siemens Business, leads in electronic design automation software - Mentor Graphics. - Режим доступа: https://www.mentor.com/. - Загл. с экрана.
6. Synopsys. - Режим доступа: https://www.synopsys.com/. - Загл. с экрана.
7. Скляр, В. А. Учет электрофизических эффектов субмикронного уровня при проектировании современных СБИС / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 42-44.
8. Исследование влияния разброса технологических параметров СБИС на стойкость к эффектам накопленной дозы радиации с помощью средств приборно-технологического моделирования / А.В. Селецкий, Н.А. Шелепин, А.А. Смолин, А.В. Уланова // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2016. - № 4. - С. 178-183.
9. Гаврилов, С. В. Методы ускоренной характеризации библиотек элементов СБИС с контролем заданной точности / С. В. Гаврилов, О. Н. Гудкова, Ю. Б. Егоров // Известия высших учебных заведений. Электроника. - 2010. - № 3 (83). - С. 51-60.
10. Характеризация и моделирование сигналов в САПР / В. А. Скляр, В. К. Зольников, А. И. Яньков, Ю. А. Чевычелов, В. Ф. Барабанов // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 62-67.
