сотрудник
Воронеж, Россия
Россия
Проведена декомпозиция процесса формирования и реализации проектов дизайн-центрами микроэлектроники. Выделены укрупненные группы процессов (подпроцессов), которые были подробно рассмотрены и проанализированы относительно основных задач управления. Проведена постановка задач, как по каждой укрупненной группе процессов (подпроцессов), так и в целом.
Управление, электронная компонентная база, проект, этапы реализации, испытания.
I. Введение
Повсеместное применение электронных комплектующих, как в изделиях, сопровождающих все сферы жизни и деятельности человека, так и в таких областях, как атомная энергетика, космос, вооружение, требует их надежной и стабильной работы во всех системах (медицинских, транспортных, управления техническими объектами, военных и радиотехнических и т.д.) [11, 17-19]. Таким образом, разработка надежной и стойкой электронной компонентной базы (ЭКБ) – это важная задача, решение которой обеспечивает безопасность населения, а проекты создания ЭКБ заслуживают особого внимания.
Формирование и реализация проектов отечественными дизайн-центрами (ДЦ) микроэлектроники включают ряд процессов:
- разработка технического задания (ТЗ);
- проработка проекта с точки зрения будущих испытаний;
- оценка достаточности и реализуемости требований к ЭКБ;
- оценка степени рисков по проекту;
- составление сметы по проекту;
- планирование работ;
- планово-экономическое обоснование;
- оформление ТЗ;
- проектирование ЭКБ (определение технологического процесса изготовления (выбор кремниевой фабрики (КФ)); разработка конструктивно-технологических требований (КТТ) и технологических файлов; разработка архитектуры и структуры интегральной схемы (ИС); моделирование ИС на поведенческом уровне; разработка логических схем макроблоков и ИС в целом; логическое моделирование; разработка электрической схемы макроблоков и ИС в целом; электрическое моделирование; доработка топологии библиотеки стандартных элементов; разработка топологии макроблоков; формирование рекомендаций к измерениям; верификация (на системном, функционально-логическом, схемотехническом уровнях); передача управляющей информации на КФ);
- создание опытных образцов (КФ);
- разработка программного обеспечения для проверки ИС;
- подготовка оснастки для проверки пластин;
- формирование программы и методики испытаний;
- подготовка оснастки для испытаний ИС;
- проверка пластин на годность кристаллов, выбраковка;
- резка пластины и корпуссирование;
- формирование выборки, проведение отбраковочных испытаний;
- проведение испытаний (к внешним воздействующим факторам (ВВФ); к механическим воздействующим факторам (ВФ); к климатическим ВФ; ресурсные испытания; конструктивные испытания);
- подготовка протоколов испытаний;
- разработка конструкторской и технологической документации;
- подготовка отчета по теме;
- приемка темы.
1. Новикова, Т. П. Выбор методов принятия управленческих решений в социально-экономических системах на примере дизайн-центра микроэлектроники / Т. П. Новикова // Моделирование систем и процессов. - 2017. -Т. 10, № 2. - С. 33-40.
2. Зольников, К. В. Методика проектирования современных микросхем / К. В. Зольников // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. - 2014. - Т. 2, № 4-3 (9-3). - С. 348-355.
3. Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм / В. А. Скляр, К. В. Зольников, В. В. Лавлинский, К. И. Таперо, А. И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. -№ 4. - С. 72-76.
4. Бурков, В. Н. Введение в теорию управления организационными системами / В. Н. Бурков, Н. А. Коргин, Д. А. Новиков. - М. : Либроком, 2009. - 264 с.
5. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В. В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.
6. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98.
7. Смерек, В. А. Оптимизация методов проектирования микросхем стойких к радиации / В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Теория и численные методы решения обратных и некорректных задач : материалы международной молодежной научной школы. - 2012. -С. 156-161.
8. Оптимизация методов проектирования микросхем стойких к радиации / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В.Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 17-20.
9. Федосов, В. В. Минимально необходимый объем испытаний изделий микроэлектроники на этапе входного контроля / В. В. Федосов, В. И. Орлов // Изв. вузов. Приборостроение. - 2011. - Т. 54, № 4. - С. 58-61.
10. Новикова, Т. П. Разработка алгоритма решения задач управления последовательностью испытаний электронной компонентной базы / Т. П. Новикова // Научно-технический вестник Поволжья. - 2018. - № 8. - С. 85-87.
11. Новикова, Т. П. Система управления проектами дизайн-центра микроэлектроники / Т. П. Новикова. - Воронеж, 2014. - 135 с.
12. ГОСТ Р 56648-2015. База электронная компонентная для ракетно-космической техники. Входной контроль и дополнительные испытания. Общие положения. - Режим доступа: http://docs.cntd.ru/document/1200125987. - Загл. с экрана.
13. ГОСТ Р 56649-2015. Техника ракетно-космическая. Электронная компонентная база иностранного производства. Порядок применения. - Режим доступа: http://www.internet-law.ru/gosts/gost/62302/. - Загл. с экрана.
14. Лацапнёв, Е. В. Введение в микроинжиниринг. МЭМС. Микромашины. МСТ : текст лекций / Е. В. Лацапнёв, К. Д. Яшин // Минск : Белорусский национальный технический университет, 2008. - 56 с.
15. Борисов, Ю. И. Роль дизайн-центров микроэлектроники в развитии отечественной электронной промышленности / Ю. И. Борисов, С. В. Калин, В. Г. Немудров // Электронные компоненты. - 2008. - №10. - С. 17-21.
16. Львович, Я. Е. Моделирование и оптимизация устойчивого функционирования и экономического развития производственных систем: моногр. / Я. Е. Львович, М. Л. Лапшина, Д. Д. Лапшин. - Воронеж: ИПЦ «Научная книга», 2011. - 228 с.
17. Соколов, С. В. Тенденции развития операционной технологии аэросева беспилотными летательными аппаратами в лесовосстановительном производстве / С. В. Соколов, А. И. Новиков // Лесотехнический журнал. -2017. - Т. 7, № 4 (28). - С. 190-205.
18. Новиков, А. И. Применение нанотехнологий в автомобильном транспорте : учебное пособие / А.И. Новиков. - Воронеж, 2016. - 156 с.
19. Соболев, К. О. К вопросу применения квантовых компьютеров в автомобильном транспорте / К. О. Соболев, А. И. Новиков // Альтернативные источники энергии в транспортно-технологическом комплексе: проблемы и перспективы рационального использования. - 2014. - № 1. - С. 458-460.
20. Применение испытательного стенда контроля стойкости электронной компонентной базы для испытаний биполярных операционных усилителей / А. С. Петров, М. С. Петров, К. И. Таперо., В. Н. Улимов, О. В. Мещуров, А. А. Романенко, В. С. Анашин, П. А. Чубунов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2013. - № 1. - С. 14-17.
21. Машевич, П. Р. Инструментальные средства автоматизации проектирования изделий микроэлектроники дизайн-центра / П. Р. Машевич, В. К. Зольников, К. И. Таперо. - Воронеж, 2006. - 179 с.
