<?xml version="1.0"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">26720</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/article_5c4f1983bb0913.33645314</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">THE TASKS SETTING OF MANAGING THE FORMATION AND PROJECTS IMPLEMENTATION BY MICROELECTRONICS DESIGN CENTERS</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Постановка задач управления формированием и реализацией проектов дизайн-центрами микроэлектроники</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Новикова</surname>
       <given-names>Татьяна Петровна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Novikova</surname>
       <given-names>Tatyana Petrovna</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>novikova_tp.vglta@mail.ru</email>
     <bio xml:lang="ru">
      <p>кандидат технических наук;</p>
     </bio>
     <bio xml:lang="en">
      <p>candidate of technical sciences;</p>
     </bio>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Зольников</surname>
       <given-names>Владимир Константинович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zolnikov</surname>
       <given-names>V. K.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <volume>11</volume>
   <issue>3</issue>
   <fpage>55</fpage>
   <lpage>60</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://naukaru.ru/en/nauka/article/26720/view">https://naukaru.ru/en/nauka/article/26720/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Проведена декомпозиция процесса формирования и реализации проектов дизайн-центрами микроэлектроники. Выделены укрупненные группы процессов (подпроцессов), которые были подробно рассмотрены и проанализированы относительно основных задач управления. Проведена постановка задач, как по каждой укрупненной группе процессов (подпроцессов), так и в целом.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>Проведена декомпозиция процесса формирования и реализации проектов дизайн-центрами микроэлектроники. Выделены укрупненные группы процессов (подпроцессов), которые были подробно рассмотрены и проанализированы относительно основных задач управления. Проведена постановка задач, как по каждой укрупненной группе процессов (подпроцессов), так и в целом.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>Управление</kwd>
    <kwd>электронная компонентная база</kwd>
    <kwd>проект</kwd>
    <kwd>этапы реализации</kwd>
    <kwd>испытания.</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p>I. ВведениеПовсеместное применение электронных комплектующих, как в изделиях, сопровождающих все сферы жизни и деятельности человека, так и в таких областях, как атомная энергетика, космос, вооружение, требует их надежной и стабильной работы во всех системах (медицинских, транспортных, управления техническими объектами, военных и радиотехнических и т.д.) [11, 17-19]. Таким образом, разработка надежной и стойкой электронной компонентной базы (ЭКБ) – это важная задача, решение которой обеспечивает безопасность населения, а проекты создания ЭКБ заслуживают особого внимания.Формирование и реализация проектов отечественными дизайн-центрами (ДЦ) микроэлектроники включают ряд процессов:- разработка технического задания (ТЗ);- проработка проекта с точки зрения будущих испытаний;- оценка достаточности и реализуемости требований к ЭКБ;- оценка степени рисков по проекту;- составление сметы по проекту;- планирование работ;- планово-экономическое обоснование;- оформление ТЗ;- проектирование ЭКБ (определение технологического процесса изготовления (выбор кремниевой фабрики (КФ)); разработка конструктивно-технологических требований (КТТ) и технологических файлов; разработка архитектуры и структуры интегральной схемы (ИС); моделирование ИС на поведенческом уровне; разработка логических схем макроблоков и ИС в целом; логическое моделирование; разработка электрической схемы макроблоков и ИС в целом; электрическое моделирование; доработка топологии библиотеки стандартных элементов; разработка топологии макроблоков; формирование рекомендаций к измерениям; верификация (на системном, функционально-логическом, схемотехническом уровнях); передача управляющей информации на КФ);- создание опытных образцов (КФ);- разработка программного обеспечения для проверки ИС;- подготовка оснастки для проверки пластин;- формирование программы и методики испытаний;- подготовка оснастки для испытаний ИС;- проверка пластин на годность кристаллов, выбраковка;- резка пластины и корпуссирование; - формирование выборки, проведение отбраковочных испытаний;- проведение испытаний (к внешним воздействующим факторам (ВВФ); к механическим воздействующим факторам (ВФ); к климатическим ВФ; ресурсные испытания; конструктивные испытания);- подготовка протоколов испытаний;- разработка конструкторской и технологической документации;- подготовка отчета по теме;- приемка темы.</p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Новикова, Т. П. Выбор методов принятия управленческих решений в социально-экономических системах на примере дизайн-центра микроэлектроники / Т. П. Новикова // Моделирование систем и процессов. - 2017. -Т. 10, № 2. - С. 33-40.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Novikova, T. P. Vybor metodov prinyatiya upravlencheskih resheniy v social'no-ekonomicheskih sistemah na primere dizayn-centra mikroelektroniki / T. P. Novikova // Modelirovanie sistem i processov. - 2017. -T. 10, № 2. - S. 33-40.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, К. В. Методика проектирования современных микросхем / К. В. Зольников // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. - 2014. - Т. 2, № 4-3 (9-3). - С. 348-355.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, K. V. Metodika proektirovaniya sovremennyh mikroshem / K. V. Zol'nikov // Aktual'nye napravleniya nauchnyh issledovaniy XXI veka: teoriya i praktika. - 2014. - T. 2, № 4-3 (9-3). - S. 348-355.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм / В. А. Скляр, К. В. Зольников, В. В. Лавлинский, К. И. Таперо, А. И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. -№ 4. - С. 72-76.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Razvitie tehnologii i platform proektirovaniya pri topologicheskih normah menee 90 nm / V. A. Sklyar, K. V. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, K. I. Tapero, A. I. Ozerov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. -№ 4. - S. 72-76.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Бурков, В. Н. Введение в теорию управления организационными системами / В. Н. Бурков, Н. А. Коргин, Д. А. Новиков. - М. : Либроком, 2009. - 264 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Burkov, V. N. Vvedenie v teoriyu upravleniya organizacionnymi sistemami / V. N. Burkov, N. A. Korgin, D. A. Novikov. - M. : Librokom, 2009. - 264 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В. В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K. V. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sklyar, V. A. Proektirovanie i ispytaniya mikroshem dlya sistem sbora i obrabotki informacii / V. A. Sklyar, A. V. Achkasov, K. V. Zol'nikov // Radiotehnika. - 2014. - № 6. - S. 94-98.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B7">
    <label>7.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Смерек, В. А. Оптимизация методов проектирования микросхем стойких к радиации / В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Теория и численные методы решения обратных и некорректных задач : материалы международной молодежной научной школы. - 2012. -С. 156-161.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Smerek, V. A. Optimizaciya metodov proektirovaniya mikroshem stoykih k radiacii / V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Teoriya i chislennye metody resheniya obratnyh i nekorrektnyh zadach : materialy mezhdunarodnoy molodezhnoy nauchnoy shkoly. - 2012. -S. 156-161.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B8">
    <label>8.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Оптимизация методов проектирования микросхем стойких к радиации / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В.Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 17-20.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Optimizaciya metodov proektirovaniya mikroshem stoykih k radiacii / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, K. V.Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 3. - S. 17-20.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B9">
    <label>9.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Федосов, В. В. Минимально необходимый объем испытаний изделий микроэлектроники на этапе входного контроля / В. В. Федосов, В. И. Орлов // Изв. вузов. Приборостроение. - 2011. - Т. 54, № 4. - С. 58-61.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Fedosov, V. V. Minimal'no neobhodimyy ob'em ispytaniy izdeliy mikroelektroniki na etape vhodnogo kontrolya / V. V. Fedosov, V. I. Orlov // Izv. vuzov. Priborostroenie. - 2011. - T. 54, № 4. - S. 58-61.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B10">
    <label>10.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Новикова, Т. П. Разработка алгоритма решения задач управления последовательностью испытаний электронной компонентной базы / Т. П. Новикова // Научно-технический вестник Поволжья. - 2018. - № 8. - С. 85-87.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Novikova, T. P. Razrabotka algoritma resheniya zadach upravleniya posledovatel'nost'yu ispytaniy elektronnoy komponentnoy bazy / T. P. Novikova // Nauchno-tehnicheskiy vestnik Povolzh'ya. - 2018. - № 8. - S. 85-87.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B11">
    <label>11.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Новикова, Т. П. Система управления проектами дизайн-центра микроэлектроники / Т. П. Новикова. - Воронеж, 2014. - 135 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Novikova, T. P. Sistema upravleniya proektami dizayn-centra mikroelektroniki / T. P. Novikova. - Voronezh, 2014. - 135 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B12">
    <label>12.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р 56648-2015. База электронная компонентная для ракетно-космической техники. Входной контроль и дополнительные испытания. Общие положения. - Режим доступа: http://docs.cntd.ru/document/1200125987. - Загл. с экрана.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">GOST R 56648-2015. Baza elektronnaya komponentnaya dlya raketno-kosmicheskoy tehniki. Vhodnoy kontrol' i dopolnitel'nye ispytaniya. Obschie polozheniya. - Rezhim dostupa: http://docs.cntd.ru/document/1200125987. - Zagl. s ekrana.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B13">
    <label>13.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р 56649-2015. Техника ракетно-космическая. Электронная компонентная база иностранного производства. Порядок применения. - Режим доступа: http://www.internet-law.ru/gosts/gost/62302/. - Загл. с экрана.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">GOST R 56649-2015. Tehnika raketno-kosmicheskaya. Elektronnaya komponentnaya baza inostrannogo proizvodstva. Poryadok primeneniya. - Rezhim dostupa: http://www.internet-law.ru/gosts/gost/62302/. - Zagl. s ekrana.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B14">
    <label>14.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Лацапнёв, Е. В. Введение в микроинжиниринг. МЭМС. Микромашины. МСТ : текст лекций / Е. В. Лацапнёв, К. Д. Яшин // Минск : Белорусский национальный технический университет, 2008. - 56 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Lacapnev, E. V. Vvedenie v mikroinzhiniring. MEMS. Mikromashiny. MST : tekst lekciy / E. V. Lacapnev, K. D. Yashin // Minsk : Belorusskiy nacional'nyy tehnicheskiy universitet, 2008. - 56 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B15">
    <label>15.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Борисов, Ю. И. Роль дизайн-центров микроэлектроники в развитии отечественной электронной промышленности / Ю. И. Борисов, С. В. Калин, В. Г. Немудров // Электронные компоненты. - 2008. - №10. - С. 17-21.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Borisov, Yu. I. Rol' dizayn-centrov mikroelektroniki v razvitii otechestvennoy elektronnoy promyshlennosti / Yu. I. Borisov, S. V. Kalin, V. G. Nemudrov // Elektronnye komponenty. - 2008. - №10. - S. 17-21.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B16">
    <label>16.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Львович, Я. Е. Моделирование и оптимизация устойчивого функционирования и экономического развития производственных систем: моногр. / Я. Е. Львович, М. Л. Лапшина, Д. Д. Лапшин. - Воронеж: ИПЦ «Научная книга», 2011. - 228 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">L'vovich, Ya. E. Modelirovanie i optimizaciya ustoychivogo funkcionirovaniya i ekonomicheskogo razvitiya proizvodstvennyh sistem: monogr. / Ya. E. L'vovich, M. L. Lapshina, D. D. Lapshin. - Voronezh: IPC «Nauchnaya kniga», 2011. - 228 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B17">
    <label>17.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Соколов, С. В. Тенденции развития операционной технологии аэросева беспилотными летательными аппаратами в лесовосстановительном производстве / С. В. Соколов, А. И. Новиков // Лесотехнический журнал. -2017. - Т. 7, № 4 (28). - С. 190-205.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sokolov, S. V. Tendencii razvitiya operacionnoy tehnologii aeroseva bespilotnymi letatel'nymi apparatami v lesovosstanovitel'nom proizvodstve / S. V. Sokolov, A. I. Novikov // Lesotehnicheskiy zhurnal. -2017. - T. 7, № 4 (28). - S. 190-205.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B18">
    <label>18.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Новиков, А. И. Применение нанотехнологий в автомобильном транспорте : учебное пособие / А.И. Новиков. - Воронеж, 2016. - 156 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Novikov, A. I. Primenenie nanotehnologiy v avtomobil'nom transporte : uchebnoe posobie / A.I. Novikov. - Voronezh, 2016. - 156 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B19">
    <label>19.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Соболев, К. О. К вопросу применения квантовых компьютеров в автомобильном транспорте / К. О. Соболев, А. И. Новиков // Альтернативные источники энергии в транспортно-технологическом комплексе: проблемы и перспективы рационального использования. - 2014. - № 1. - С. 458-460.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sobolev, K. O. K voprosu primeneniya kvantovyh komp'yuterov v avtomobil'nom transporte / K. O. Sobolev, A. I. Novikov // Al'ternativnye istochniki energii v transportno-tehnologicheskom komplekse: problemy i perspektivy racional'nogo ispol'zovaniya. - 2014. - № 1. - S. 458-460.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B20">
    <label>20.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Применение испытательного стенда контроля стойкости электронной компонентной базы для испытаний биполярных операционных усилителей / А. С. Петров, М. С. Петров, К. И. Таперо., В. Н. Улимов, О. В. Мещуров, А. А. Романенко, В. С. Анашин, П. А. Чубунов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2013. - № 1. - С. 14-17.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Primenenie ispytatel'nogo stenda kontrolya stoykosti elektronnoy komponentnoy bazy dlya ispytaniy bipolyarnyh operacionnyh usiliteley / A. S. Petrov, M. S. Petrov, K. I. Tapero., V. N. Ulimov, O. V. Meschurov, A. A. Romanenko, V. S. Anashin, P. A. Chubunov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2013. - № 1. - S. 14-17.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B21">
    <label>21.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Машевич, П. Р. Инструментальные средства автоматизации проектирования изделий микроэлектроники дизайн-центра / П. Р. Машевич, В. К. Зольников, К. И. Таперо. - Воронеж, 2006. - 179 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Mashevich, P. R. Instrumental'nye sredstva avtomatizacii proektirovaniya izdeliy mikroelektroniki dizayn-centra / P. R. Mashevich, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero. - Voronezh, 2006. - 179 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
