ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ШЕРОГРАФИИ ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ ИЗ КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
Шерография, представляющая собой сдвиговый спекл-интерферометрический метод НК, находит все большее применение в областях промышленности, связанных с композитным производством. Оперативность бесконтактного метода, высокая чувствительность, наглядность результатов и универсальность использования различных видов воздействия на исследуемые образцы определяют основные преимущества шерографии в сравнении с другими методам НК. Целью данной статьи является знакомство читателей с общими принципами шерографии и областями производства, к которым может быть применим данный метод контроля. Статья дает представление об основных типах оборудования, его ограничениях и возможностях. Применение метода шерографии в значительной степени позволяет как оптимизировать и отладить процесс производства, так и контролировать объекты, находящиеся в эксплуатации; может являться инструментом входного контроля.

Ключевые слова:
шерография, композитные материалы, неразрушающий контроль, интерферометрический метод, непроклей, расслоение
Список литературы

1. Джоунс Р., Уайкс К. Голографическая и спекл-интерферометрия / Пер. с англ. // Pед. Г. В. Скроцкий. - М.: МИР, 1986. - 328 с.

2. Разумовский И. А. Интерференционно-оптические методы механики деформируемого твердого тела. - М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. - 240 с.

3. Vieira Fantin A., Dal Pont A. Using shearography to detect damage in gas pipelines. - The International Society for Optical Engineering. SPIE Newsroom. 2006. No.https://doi.org/10.1117/2.1200609.0399. Доступно по ссылке spie.org/documents/newsroom/imported/.../2006090399.pdf

4. Jian Zhang, Rongsheng Geng. Studies on Digital Shearography for Testing of Aircraft Composite Structures and Honeycomb-based Specimen. - In: 17th WCNDT. - Shanghai, China. 2008. Доступно по ссылке www.ndt.net/article/wcndt2008/papers/593.pdf

5. Wolfgang S., Lianxiang Y. Digital Shearography: Theory and Application of Digital Speckle Pattern Shearing Interferometry. USA. 2003. - 330 p.

Войти или Создать
* Забыли пароль?