1. Введение
Производство риса сопровождается возникновением большого количества отходов (до 30% от сухого рисового зерна), включающих солому, цветковую чешую (лузга, шелуха) и отруби (мучка), которые образуются после извлечения зерен риса на предприятиях пищевой промышленности [1]. Известные способы утилизации отходов риса [2–4] путем измельчения и рассеивания на поле в качестве удобрения или сжиганием не являются эффективными из-за возможности загрязнения окружающей среды и/или загрязнения воздуха углекислым газом. Биодеградация отходов риса путем воздействия микроорганизмов занимает продолжительное время и не позволяет быстро переработать большие объемы отходов рисового производства [1]. Как известно [1–4], в соломе и шелухе риса содержание минеральных компонентов достигает 10–20%, среди них основную долю (80–95%) составляет диоксид кремния. Очищенный диоксид кремния из рисовой шелухи или соломы может быть получен посредством пиролиза отходов на воздухе, за которым следует экстракция в щелочных или кислотных растворах [2–4]. Конкурентным преимуществом диоксида кремния, извлекаемого из отходов риса (далее — «зеленого» диоксида кремния или g-SiO2), является его относительно низкая цена по сравнению со стоимостью диоксида кремния, полученного из других источников [2–4]. Очевидно, химический состав рисовой соломы или шелухи во многом определяется климатическими условиями и качеством почв, где произрастает растение [5]. На состав «зеленого» диоксида кремния также влияют особенности применяемой технологии глубокой переработки отходов риса. Поэтому эффективное использование «зеленого» диоксида кремния может осуществляться в разных направлениях, что предполагает предварительное изучение структуры и свойств вновь полученного материала. Цель настоящего исследования состояла в изучении элементного состава и структуры порошкообразного «зеленого» диоксида кремния, произведенного WATERS MOOTH LTD, Company (Shenzhen, People’s Republic of China).
2. Экспериментальная часть
Исследовали порошки g-SiO2 производства WATER SMOOTH LTD, Company (Shenzhen, People’s Republic of China) без предварительной обработки. Размер и форму наночастиц, агломератов, нано-/микроструктур g-SiO2 определяли путем анализа электронно-микроскопических изображений, полученных с помощью растрового электронного микроскопа (РЭМ) Versa 3D™ DualBeam™. Наличие кристаллической и аморфной фазы определяли методом рентгеновской дифракции (РД) с применением дифрактометра ДРОН‑3М, оборудованного медным анодом (длина волны характеристического излучения λCu = 1,5406 Å).
A.
Academic degree:
candidate of physical and mathematical sciences
LLC «Systems for Microscopy and Analysis» Leading Materials Specialist · Russian Federation · Moscow



