MODELLING OF IONIZATION EFFECTS AND THE EFFECTS OF DISPLACEMENT IN DIGITAL CHIPS FOR CAD Modelling of ionization effects and the effects of displacement in digital chips for CAD

Published in Forestry Engineering Journal · Volume 4, Issue 4 · Pages 280–290 · Rubric: Business Administration. Model engineering. Information science
DOI: https://doi.org/10.12737/8491
Received: 10.03.2015 Accepted: 10.03.2015 Published: 10.03.2015 Language of publication: RUS
The methods of design of digital fault-tolerant bipolar integrated circuits to exposure to radiations such as gamma, x-ray and neutron radiation are considered, as well as the impact of the neutron pulse, which af-fect largely on the gain of the transistor. The operating mode of integrated circuits with change in the ini-tial values of voltages, as well as currents of the emitter and of the base is presented. Numerical calcula-tions of the ionization current in the base-collector junction are considered which allow pre-calculate dose rate of gamma, x-ray and neutron radiation.
CAD, chips, radiating, radiation, information technology, mathematical models, chips, electronic component base, radiation resistance, radiation-resistant chips.
Text References

Рассмотрены методы проектирования сбоеустойчивых цифровых биполярных интегральных микросхем с воздействием на них таких радиаций как гамма-, рентгеновского и нейтронного излучения, а так же воздействие нейтронного импульса, которые влияют, в значительной степени, на коэффициенты усиления транзисторов. Представлен режим работы интегральных микросхем с изменением начальных значений напряжений, а так же токов эммитера и базы. Рассмотрены численные расчеты величин ионизационного тока в база-коллекторном переходе, которые позволяют предварительно рассчитать мощность дозы гамма-, рентгеновского и нейтронного излучения.

 

1. Zol´nikov, V. K. Proektirovanie sboeustoychivykh mikroskhem [Tekst] / V. K. Zol´nikov, A. I. Yan´kov, V. A. Smerek, A. V. Achkasov, N. A. Orlikovskiy, D. M. Utkin. Aktual´nye napravleniya nauchnykh issledovaniy XXI veka: teoriya i praktika. - 2013. - № 5 (5). - S. 217-222. EDN: https://elibrary.ru/RQRJUZ

2. Utkin, D. M. Problemno-orientirovannoe programmnoe obespechenie dlya rascheta pokazateley nadezhnosti slozhnykh blokov programmno-tekhnicheskikh kompleksov i ego integratsiya v sapr skvoznogo proektirovaniya [Tekst] / D. M. Utkin, V. K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 3. - S. 48-51. DOI: https://doi.org/10.12737/2391; EDN: https://elibrary.ru/RUXQPN

3. Lavlinskiy, V. V. Sintez virtual´noy real´nosti pri proektirovanii informatsionnykh ob´´ektov v usloviyakh nechetkogo predstavleniya kontroliruemykh parametrov [Tekst] / V. V. Lavlinskiy, E. E. Obruchnikova, Yu. S. Serbulov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2011. - № 3. - S. 37-44. EDN: https://elibrary.ru/OBJOIP

4. Chevychelov, Yu. A. Metody opredeleniya stoykosti kmop-komponentov pri proektirovanii mikroskhem [Tekst] / Yu. A. Chevychelov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2011. - № 3. - S. 68-71. EDN: https://elibrary.ru/PPZBUD

5. Lavlinskiy, V. V. Issledovanie podkhodov dlya sozdaniya informatsionnoy sostavlyayushchey pri proektirovanii intellektual´nogo trenazhera na osnove signalov kory golovnogo mozga [Tekst] / V. V. Lavlinskiy, D. V. Bibikov, R. B. Burov, Yu. G. Tabakov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2012. - № 4. - S. 52-56. EDN: https://elibrary.ru/PXPYCF

6. Bibikov, D. V. Metod proektirovaniya skhem dlya schityvaniya NCh-signalov s kory golovnogo mozga [Tekst] / D. V. Bibikov, R. B. Burov, V. V. Lavlinskiy, Yu. G. Tabakov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 2. - S. 11-14. EDN: https://elibrary.ru/RPUGKB

7. Antsiferova, V. I. Strategiya obrazovaniya v oblasti radioelektroniki v sovremennykh usloviyakh [Tekst] / V. I. Antsiferova, O. V. Korovina, V. K. Zol´nikov / Aktual´nye napravleniya nauchnykh issledovaniy XXI veka: teoriya i praktika. - 2014. - № 4-2 (9-2). - S. 378-381. DOI: https://doi.org/10.12737/5190; EDN: https://elibrary.ru/SMBZHB

8. Sklyar, V. A. Problema tselostnosti signala: kharakterizatsiya i modelirovanie protsessov v SAPR [Tekst] / V. A. Sklyar, V. K. Zol´nikov, A. I. Yan´kov, Yu. A. Chevychelov, V. F. Barabanov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 2. - S. 67-72. EDN: https://elibrary.ru/RPUGQP