DETERMINATION OF STRUCTURES IN CHIPS THAT ARE SENSITIVE TO COSMIC PARTICLES
Abstract and keywords
Abstract (English):
The article considers the influence of scaling effects on the stability of integrated circuits (IC) under the influence of cosmic particles. There are two directions of scaling: reduction of topological dimensions of IC elements and optimization of energy consumption due to design and technological solutions. The paper analyzes the main effects (SEU, SEL, SEHE, SEGR and MBU) on the sensitivity of the IC to single events (SE)

Keywords:
heavy charged particles, single events, integrated circuits, stability, degree of integration, scaling effect
References

1. Sklyar, V. A. Modelirovanie nizkointensivnogo vozdeystviya kosmicheskogo prostranstva / V. A. Sklyar, V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. – 2016. – T. 9, № 2. – S. 71-74.

2. Zol'nikov, V. K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V. K. Zol'nikov, V. N. Achkasov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. – 2004. – № 1-2. – S. 57-60.

3. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). – 2012. – № 1. – S. 634-637.

4. Potapov, I. P. Odinochnye sobytiya v KMOP-izdeliyah pri vozdeystvii otdel'nyh zaryazhennyh chastic / I. P. Potapov, S. S. Vasil'ev, D. G. Horyuschin // Informacionnye tehnologii modelirovaniya i upravleniya. 2006. – № 8 (33). – S. 979-986.

5. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K. V. Zol'nikov, V. A. Sklyar, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. – 2014. – № 2. – S. 5-9.

6. Kryukov, V. P. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya v SAPR / V. P. Kryukov, K. V. Zol'nikov, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. – 2013. – № 4. – S. 41-44.

7. Zol'nikov, V. K. Metody verifikacii slozhno-funkcional'nyh blokov v SAPR dlya mikroshem gluboko submikronnyh proektnyh norm / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. – 2019. – T. 12, № 1. – S. 16-24.

8. Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. – 2010. – № 1-2. – S. 41-48.

9. Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. – 2014. – T. 4, № 4 (16). – S. 280-291.

10. Metody proektirovaniya mikroshem, stoykih k odinochnym sobytiyam / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. – 2012. – № 3. – S. 17-20.

11. Modelirovanie vozdeystviya TZCh v aktivnyh oblastyah ele¬mentov mikroshem pri proektirovanii / K. V. Zol'nikov, V. A. Smerek, A. V. Achkasov, V. A. Sklyar // Modelirovanie sistem i processov. – 2014. – № 1. – S. 15-17.

12. Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya i obespecheniya zaschity tipovyh KMOP elementov v processe proektirovaniya / V.K. Zol'nikov, V.A. Smerek, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. – 2013. – № 3. – S. 14-16.

13. Zol'nikov, V. K. Prakticheskie metodiki vypolneniya verifikacii proektirovaniya mikroshem / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. – 2019. – T. 12, № 1. – S. 25-30.

14. Achkasov, A. V. Sozdanie otechestvennoy proektnoy sredy razrabotki mikroelektronnyh sistem / A.V. Achkasov, A.I. Yan'kov // Privodnaya tehnika. – 2006. – № 5. – S. 28-30.