Russian Federation
Russian Federation
AO "Nauchno-issledovatel'skiy institut elektronnoy tehniki"
Russian Federation
Resistance is Investigated microprocessor series 1867. The results show that manufacturing technology and applied circuit solutions in process of designing chips VT mode marinovannogo of RAM is entirely eliminate the occurrence of single failures and latch-up when exposed to heavy charged particles.
CAD, heavy charged particles, chip
В последнее время, несмотря на большой накоп-ленный опыт в разработке микросхем для космиче-ского применения, задача обеспечения стойкости является не менее актуальной. Это связано с общим развитием уровня технического прогресса, внедрением новых и совершенствованием существующих технологических процессов, что привело к резкому уменьшению проектных норм и увеличению степени интеграции. Учитывая малые размеры активных областей в данных изделиях, там стали в большей степени проявляться так называемые одиночные события. Это радиационные эффекты, причиной возникновения которых является взаимодействие отдельной (одной) ядерной частицы с активной областью прибора. Данные эффекты относятся к новому классу микродозиметрических радиационных эффектов в электронных приборах и носят вероятностный характер [1].
В настоящее время многими предприятиями ведутся работы по созданию радиационно-стойких сбоеустойчивых микросхем. Специалисты ОАО «НИИЭТ» провели ряд исследований направленных на создание
1. Agakhanyan, T. M. Radiatsionnye effekty v integral´nykh mikroskhemakh [Tekst] / T. M. Agakhanyan, E. R. Astvatsatur´yan, P. K. Skorobogatov. - M. : Energoatomizdat, 1989.
2. Yan´kov, A. I. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v protsesse proektirovaniya dlya mikroprotsessorov K1830BE32MU i 1830VE32U [Tekst] / A. I. Yan´kov, V. A. Smerek, V. P. Kryukov, V.K. Zol´nikov. - Modelirovanie sistem i protsessov. - 2012. - № 1. - S. 92-95.
3. Kryukov, V. P. Rezul´taty ekserimental´nykh issledovaniy mikroskhem 1882VE53U, K1882VE53MU i 1830VE32U na stoykost´ k vozdeystviyu tyazhelykh zaryazhennykh chastits [Tekst] / V. P. Kryukov, A. I. Yan´kov, V. G. Kalinin, V.A. Smerek. - Modelirovanie sistem i protsessov. - 2011. - № 4. - S. 41-44.
