ОПЫТ ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ ВЕРИФИКАЦИИ БЛОКА СОВРЕМЕННОЙ МИКРОСХЕМЫ Опыт функциональной верификации блока современной микросхемы

Опубликовано в Моделирование систем и процессов · Том 9, Номер 3 · Страницы 21–25
DOI: https://doi.org/10.12737/24495
Получено: 07.02.2017 Одобрено: 07.02.2017 Опубликовано: 07.02.2017 Язык публикаций: RUS
Авторы
В статье рассматривается методика функциональной проверки блока современной системы на кристалле. Рассмотрены основные этапы такой проверки. Приведены практические примеры реализации для двуядерной системы на кристалле, содержащей процессор обработки сигналов и набор периферийных устройств.
Функциональная верификация, система на кристалле, микропроцессор, спецификация, программа.
Текст Список литературы

I. Введение

 

Современные системы на кристалле (СнК) являются сверхбольшими интегральными схемами (СБИС), обычно содержащими несколько процессорных ядер (RISC-процессор, процессор цифровой обработки сигналов, различные аппаратные ускорители), многоуровневую память для хранения данных программ, кэш-память, шины, сопроцессор прямого доступа к памяти (ПДП), порты ввода вывода и набор системных периферийных устройств. Разработка подобных систем на кристалле является чрезвычайно сложной задачей. При этом наиболее трудоёмкой и важной задачей является функциональная верификация разрабатываемой СнК. По данным [1, 3] она занимает от 60 до 90 % времени разработки проекта в зависимости от сложности СнК и наличия необходимых СФ-блоков, а ошибки, пропущенные при функциональном контроле, могут приводить к многомиллионным убыткам [2]. В данной статье рассмотрим методику функциональной проверки одного из СФ-блоков СнК К1867ВЦ3АФ.

1. Немудров, В. Системы на кристалле. Проектирование и развитие [Текст] / В. Немудров, Г.Мартин. - М. : Техносфера, 2004. - 216 с.

2. Потапов, И. П. Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий [Текст] : монография / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, К. И. Таперо. - Воронеж : ВГУ, 2007. - 165 с.

3. Фортинский, Ю. К. Создание подсистемы верификации сложных цифровых микросхем с учетом радиационного воздействия [Текст] : монография / Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников, М. В. Конарев. - Воронеж : ВГУ, 2011.- 207 с.

4. Микросхемы интегральные 1867ВЦ3Ф. Техническое описание. КФДЛ.431282.002ТО [Электронный ресурс]. - Режим доступа: www.niiet.ru/product/product.htm. - Загл. с экрана.

5. Vasudervan, S. Effective Functional Verification Principles and Processes / S. Vasudervan - Published by Springer, P.O. Box 17, 3300 AA Dordrecht, The Netherlands. - 2006. - 268 p.

Войти или Создать
* Забыли пароль?