I. Введение
Современные системы на кристалле (СнК) являются сверхбольшими интегральными схемами (СБИС), обычно содержащими несколько процессорных ядер (RISC-процессор, процессор цифровой обработки сигналов, различные аппаратные ускорители), многоуровневую память для хранения данных программ, кэш-память, шины, сопроцессор прямого доступа к памяти (ПДП), порты ввода вывода и набор системных периферийных устройств. Разработка подобных систем на кристалле является чрезвычайно сложной задачей. При этом наиболее трудоёмкой и важной задачей является функциональная верификация разрабатываемой СнК. По данным [1, 3] она занимает от 60 до 90 % времени разработки проекта в зависимости от сложности СнК и наличия необходимых СФ-блоков, а ошибки, пропущенные при функциональном контроле, могут приводить к многомиллионным убыткам [2]. В данной статье рассмотрим методику функциональной проверки одного из СФ-блоков СнК К1867ВЦ3АФ.



