ПРОМЫШЛЕННЫЕ ИСПЫТАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ШИМ-КОНТРОЛЛЕРОВ

Опубликовано в Вестник Брянского государственного технического университета · Том 2014, Номер 2 · Страницы 92–96 · Рубрика: Вычислительная техника и информационные технологии
DOI: https://doi.org/10.12737/23275
Получено: 08.12.2016 Одобрено: 08.12.2016 Опубликовано: 08.12.2016 Язык публикаций: RUS
Рассмотрены особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Описаны конструкция и программное обеспечение разработанного тестера.
ШИМ-контроллер, тестер, промышленные испытания, интегральные микросхемы, источники напряжения, измерители временных интервалов.
Текст Список литературы
Текст (PDF)
Читать Скачать

1. Малышева, И.А. Технология производства интегральных микросхем / И.А. Малышева.- М.: Радио и связь, 1991.-240с.

Войти или Создать
* Забыли пароль?