Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
Рассматриваются вопросы создания современной микроэлектроники специального назначения и условия ее эксплуатации. Определены тенденции развития микросхем космического назначения и их влияния на радиационную стойкость. В работе приведены основные физические явления, доминирующие среди радиационных эффектов в последнее время. Уменьшение характерных размеров элементов СБИС приводит к появлению новых физических эффектов, для которых необходимо разрабатывать новые модели, или усовершенствовать существующие.

Ключевые слова:
микросхема, радиационное воздействие, микроэлектроника, СБИС, космическое пространство
Текст
Текст произведения (PDF): Читать Скачать
Список литературы

1. Автоматизация управления и проектирования в электронной промышленности : монография / Ю.К. Фортинский, В.Е. Межов, В.К. Зольников, П.П. Куцько. – Воронеж: ВГУ, 2008. – 275 с.

2. Анциферова, В.И. Анализ подготовки специалистов по радиоэлектронике для научно-производственных и коммерческих структур в современных условиях / В.И. Анциферова, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2009. – № 3-4. – С. 5-12.

3. Меерсон, В.Э. Моделирование потоков заряженных частиц космического пространства / В.Э. Меерсон, С.С. Веневитина, Е.Д. Богачева // Моделирование систем и процессов. – 2017. – Т. 10, № 3. – С. 32-39.

4. Меерсон, В.Э. Модели прохождения заряженных частиц космического пространства через защиту космической аппаратуры / В.Э. Меерсон, С.С. Веневитина, Г.В. Киселев // Моделирование систем и процессов. – 2017. – Т. 10, № 3. – С. 40-48.

5. Архитектура нейропроцессоров для систем автоматического управления подвижными объектами / В. М. Антимиров, В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, В. П. Крюков, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко // Моделирование систем и процессов. – 2017. – Т. 10, № 4. – С. 4-10.

6. Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, А. В. Фомичев, В. Н. Чикин, А. В. Ачкасов, В. Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 4. – С. 20-25.

7. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, А. В. Фомичев, В. Н. Чикин, А. В. Ачкасов, В. Ф. Зинченко // Моделирование си-стем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 4. – С. 25-30.

8. Ягодкин, А.С. Современные САПР для электронной компонентной базы космического назначения / А.С. Ягодкин // Моделирование систем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 4. – С. 92-97.

9. Результаты исследований ультрабыстрых выпрямительных диодов при воздействии радиации / В. К. Зольников, А. И. Яньков, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко, А. С. Ягодкин, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова, Е. А. Маклакова, А. А. Илунина, О. В. Квасов // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 3. – С. 42-47.

10. Исследование линейных стабилизаторов напряжения на стойкость к воздействию специальных факторов / В. К. Зольников, А. И. Яньков, К. А. Чубур, А. Ю. Кулай, В. П. Крюков, И. И. Струков, С. А. Гречаный, С. А. Евдокимова, А. С. Ягодкин, В. И. Анциферова, О. В. Квасов // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 3. – С. 48-53.

11. Кононов, В.С. Накристальное резервирование блоков АЦП и ЦАП специального назначения / В.С. Кононов // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 3. – С. 53-58.

12. Создание тестового окружения и порядок загрузки тестов в процессе проектирования микросхем / К. А. Чубур, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко, К. В. Зольников, А. Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. – 2020. – Т. 13, № 1. – С. 83-87.

13. Разработка материалов и радиационно-стойкой ЭКБ на основе КНС/КНИ структур / И.И. Струков, С.В. Гречаный, А.С. Ягодкин, А.Н. Черников // Моделирование систем и процессов. – 2020. – Т. 13, № 2. – С. 72-76.

14. Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева, Е.А. Маклакова, А.А. Илунина // Моделирование систем и процессов. – 2020. – Т. 13, № 3. – С. 53-58.