Россия
Технология радиационно-стойких КМОП СБИС создана на базе промышленной технологии ИС. В конструкции используются схемы обратной связи и защитные кольца для компенсации одиночных воздействий космических частиц (SEE). В большинстве критических случаев эти воздействия приводят в цифровых схемах к одиночным сбоям (SEU), которые временно нарушают состояние ячеек памяти, к защелкиванию (SEL), а в перспективе к катастрофическому изменению состояния. Различные космические программы, подтверждают большие перспективы их использования в будущих космических конструкциях. В статье рассмотрены эффекты использования радиационно-стойкой КМОП технологии, технология на базе структуры кремний на сапфире, КМОП технология на изолирующей подложке с учетом типовых характеристик, технология SIMOX-SOI, заключающаяся в разделении с помощью имплантации ионов кислорода. В новых конструкциях схем должны быть реализованы более совершенные алгоритмы, на перспективу.
Функционирование, технологический процесс, радиационная стойкость, КМОП технология, методология создания схем, специализированные процессоры
1. Semkin, N.D. Calculating the current in the measurement circuit of a high-velocity microparticle detector / N.D. Semkin, A.M. Telegin // Measurement techniques. - 2017. - Т. 59, № 12. - С. 1304-1309. - DOI:https://doi.org/10.1007/s11018-017-1133-3
2. Радиационные условия на орбите и поверхности Марса / И.П. Безродных, Е.И. Морозова, А.А. Петрукович, В.Т. Семёнов // Вопросы электромеханики. Труды ВНИИЭМ. - 2014. - Т. 138, № 1. - С. 53-57.
3. Современные условия эксплуатации микросхем космического назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай [и др.] // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем. материалы 1-й научно-практической международной конференции. - Тамбов, 2017. - С. 119-126.
4. Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В.К Зольников, В.А. Смерек, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 14-16. - DOI:https://doi.org/10.12737/2382
5. Разработка проектной среды и оценка технологичности производства микросхемы с учетом стойкости к специальным факторам на примере СБИС 1867ВЦ6Ф / В.А. Скляр, В.А. Смерек, К.В. Зольников [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 77-82. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-13-1-77-82.
6. Коновалов, В. Современные микросхемы малой степени интеграции для аппаратуры космического назначения / В. Коновалов, В. Коняхин, С. Бражников // Наноиндустрия. - 2016. - № 8 (70). -С. 32-39. - DOI:https://doi.org/10.22184/1993-8578.2016.70.8.32.38.
7. Комаров, А.С. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) : монография / А.С. Комаров, Д.В. Крапухин, Е.И. Шульгин. - М. : Техносфера, 2014. - 240 с.
8. Анашин, В.С. Особенности процесса контроля стойкости ЭКБ космических применений к воздействию ионизирующих излучений космического пространства / В.С. Анашин, П.А. Чубунов, А.Е. Козюков // Микроэлектроника-2015. Интегральные схемы и микроэлектронные модули: проектирование, производство и применение: сборник докладов Международной конференции. - 2016. - С. 117-119.
9. Состояние разработок элементной базы для систем связи и управления / В.К. Зольников, А.Ю. Кулай, В.П. Крюков, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2016. - Т. 9, № 4. - С. 11-13. - DOI:https://doi.org/10.12737/24575.
10. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.
11. Зольников, К.В. Проектирование специальных СБИС и управление проектами их создания / К.В. Зольников, В.А. Смерек, Т.П. Беляева // Интеллектуальные технологии будущего. Естественный и искусственный интеллект: сборник материалов Всероссийской молодежной конференции. - Воронеж: Научная книга, 2011. - С. 218-220.
12. Определение мероприятий по программе обеспечения качества работ проектирования и серийного производства микросхем и оценки их эффективности на примере СБИС 1867ВН016 / К.В. Зольников, А.С. Ягодкин, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 46-53. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-13-1-46-53.
13. Optimization of the cell structure for radiation-hardened power mosfets / T. Wang, L. Zheng, X. Wan [et al.] // Electronics (Switzerland). - 2019. - Т. 8, № 6. - С. 598. - DOI:https://doi.org/10.3390/electronics8060598.
14. Особенности проектирования базовых элементов микросхем космического назначения / В.К. Зольников, Т.В. Скворцова, И.И. Струков [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 66-70. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-13-3-66-70.
15. Зольников, В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. -№ 1. - С. 27-30.
