ООО «АСК-Рентген» (Ведущий специалист)
Москва, Россия
Санкт-Петербург, Россия
Санкт-Петербург, Россия
Рассмотрены и проанализированы процессы на начальных стадиях формирования центров скрытого изображения в галогенидосеребряных эмульсиях под действием ионизирующего фотонного излучения. Установлено, что разбалансированность двух конкурирующих восстановительных процессов: экспонирования и фотообработки, является причиной артефактов. Описан опыт экспертной оценки радиографических снимков с артефактами. Исследованы их различные виды и причины происхождения. Составлен альбом снимков с артефактами. Сформулированы практические рекомендации для дефектоскопистов по предотвращению причин, приводящих к артефактам при экспонировании и ручном способе химической фотообработки галогенидосеребряных плёнок.
радиографическая плёнка, формирование изображения, экспонирование химическая фотообработка, артефакты
1. Миз К., Джеймс Т. Теория фотографического процесса. - Л.: Химия, 1973. - 576 с.
2. Кагакин Е.И. Синтез и свойства фотографических эмульсий с плоскими микрокристаллами галогенидов серебра сложного состава и строения. Диссертация (д.т.н.), - Кемерово, 2002. - 314 с.
3. Румянцев С. В., Штань А. С., Гольцев В. А. Справочник по радиационным методам неразрушающего контроля. - М.: Энергоиздат, 1982. - 210 с
4. Ципинова А. Х., Шериева Э. Х. Оценка оптимального размера плоских микрокристаллов галогенида серебра для повышения светочувствительности и разрешающей способности фотопленок. - Прикладная физика. 2018. № 5. С. 77.
5. Колесников Л. B., Милешин И. В., Звиденцова Н. С. Фотоэмисионные свойства однородных и композиционных микрокристаллов галогенидов серебра. - ЖНиПФ. 1999. Т. 44. № 5. С. 11-18.
6. Halmshaw R. Industrial Radiography. - Mortsel, Belgium: AGFA-GEVAERT N.V, 1986. - 158 p.
7. Косарина Е. И., Крупнина О. А., Степанов А. В. Радиационные методы неразрушающего контроля. - СПб.: СВЕН, 2019. - 285 с.
8. Соснин Ф. Р., Клюев В. В., др. Рентгенотехника. - М.: Машиностроение, 1992. - 480 с.
9. Зуев В. М., Табакман Р. Л., Удралов Ю. И. Радиографический контроль сварных соединений. - СПб.: Энергоатомиздат, 2001. - 148 с.
10. Горбачев В. И. Семёнов А. П. Радиографический контроль сварных соединений. - М.: Спутник+, 2009. - 458 с.
11. ISO 11699-1. Контроль неразрушающий. Рентгенографические пленки для промышленной радиографии. Часть 1. Классификация пленочных систем для промышленной радиографии. - Код КС (ОКС, МКС): 37.040.25 - 14с.
12. ISO 11699-2 Контроль неразрушающий. Радиографическая пленка для промышленной радиографии. Часть 2: Контроль за обработкой пленки посредством эталонных значений. - Код КС (ОКС, МКС): 37.040.25 - 18с.
13. Мотт Н., Герни Р. Электронные процессы в ионных кристаллах. / Пер. с англ. под ред. акад. А. Ф. Иоффе. - М.: Изд-во иностранной литературы, 1950.
14. The Fundamentals of Industrial Radiography; Akasaka 9-chome, Minatoku, Tokyo 107-0052, Japan.Ref. № IX-22-2009.02 F1079.
15. Мейкляр П. В. Скрытое фотографическое изображение. - Успехи физ. . 1949. Т XXXVIII. Вып. 1.
