АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
Россия
Представлена методика проектирования современных микросхем, которая включает все основные проектные процедуры. Методика способна проводить проектирование радиационно-стойкой электронной компонентной базы.
САПР, микросхема.
УДК 519.72
МЕТОДИКАПРОЕКТИРОВАНИЯСОВРЕМЕННЫХМИКРОСХЕМ
MONITORING OF EDUCATIONAL PROCESS IN HIGHER EDUCATIONAL INSTITUTIONS
Зольников К.В., ассистент
ФГБОУ ВПО «Воронежская государственная лесотехническая академия»
г. Воронеж, Россия
DOI: 10.12737/6179
Аннотация: Представлена методика проектирования современных микросхем, которая включает все основные проектные процедуры. Методика способна проводить проектирование радиационно-стойкой электронной компонентной базы.
Summary: Presents a design methodology for modern microcircuits, which includes all of the basic design procedure. The technique is able to carry out the design of radiation-resistant electronic component base.
Ключевыеслова: САПР, микросхема.
Keywords: CAD, chip.
В настоящее время процесс проектирования уже не укладывается в четкую линейную систему, когда проектирование осуществлялось строго по нисходящему маршруту от разработки спецификации до создания и тестирования прототипа. [1-3] Сейчас на смену этому типу проектирования приходит спиралевидная методология, где работы выполняются одновременно по 4-м направлениям: разработка программного обеспечения, разработка RTL-кода, логический синтез и физический синтез. На рисунке 1 показан процесс проектирования с использованием IP блоков [4-5].
1. Конарев,. М.В.. Учет радиационного воздействия при верификации объектов проектирования на разных этапах маршрута проектирования / М.В. Конарев // Моделирование систем и процессов. - Воронеж: Издательство типографии Воронежского государственного университета. - 2009. - № 1,2. - С. 36-42.
2. Зольников, В.К.. Формирование библиотек типовых элементов и СФ блоков / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2011. № 3. С. 27-29.
3. Зольников, В.К.. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ / В.К.Зольников, А.А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. 2011. № 1-2. С. 28-30.
4. Яньков, А.И. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ и 1830ВЕ32У / А.И.Яньков, В.А.Смерек, В.П.Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 92-95.
5. Зольников, В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 27-30.
6. Уткин Д.М. Проблемно-ориентированное программное обеспечение для расчета показателей надежности сложных блоков программно-технических комплексов и его интеграция в САПР сквозного проектирования / Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2013. №3. С. 48-51.
