Рассмотрены методы защиты микросхем от воздействия тяжелых заряженных частиц, реализованные на технологических платформах 350нм и 180нм..
САПР, микросхема, тяжелые заряженные частицы.
УДК 519.72
СОЗДАНИЕ СТОЙКИХ МИКРОСХЕМ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ТЯЖЕЛЫХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ
CREATING PERSISTENT CHIPS TO THE EFFECTS OF HEAVY CHARGED PARTICLES
Зольников В.К., д.т.н., заведующий кафедрой
ФГБОУ ВПО «Воронежская государственная лесотехническая академия»
г. Воронеж, Россия
DOI: 10.12737/6178
Аннотация: Рассмотрены методы защиты микросхем от воздействия тяжелых заряженных частиц, реализованные на технологических платформах 350нм и 180нм..
Summary: Methods of protection circuits from the effects of heavy charged particles, implemented on technological platforms 350 nm and 180nm.
Ключевые слова: САПР, микросхема, тяжелые заряженные частицы.
Keywords: CAD, chip, heavy charged particles.
Известно, что первым этапом для применения методов зашиты от сбоев при проектирования сложных СБИС является выделение определенных функциональных блоков. Затем необходимо оценить имеющихся средств защиты с точки зрения не превышения ограничений [1-3].
1. Стешенко В. и др. Проектирование СБИС типа "Система на кристалле". Маршрут проектирования. Синтез схемы. // Электронные компоненты. 2009. №1.
2. Яньков, А.И.. Состояние и перспективы разработки радиационно-стойкой элементной базы во ФГУП «НИИЭТ» / А.И.Яньков, В.П.Крюков, Д.Е. Чибисов // Научно-технический журнал «Моделирование систем и процессов». Выпуск 1-2. - ВГЛТА: 2010. -С. 99-102.
3. Зольников, В.К.. Формирование библиотек типовых элементов и СФ блоков / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2011. № 3. С. 27-29.
4. Зольников, В.К.. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ / В.К.Зольников, А.А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. 2011. № 1-2. С. 28-30.
5. Яньков А.И. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ и 1830ВЕ32У / А.И.Яньков, В.А. Смерек, В.П.Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 92-95.
6. Зольников В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 27-30.
