Воронежская область, Россия
Россия
Россия
В статье предложена физическая модель оценки частоты возникновения одиночных событий (ОС) при воздействии тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) космического пространства (КП). Использовались расчетно-экспериментальные методы оценки параметров сбоев от линейных потерь энергии (ЛПЭ) и энергии протонов. В работе приведены и проанализированы полученные значения частоты возникновения сбоев и вероятность возникновения отказов.
Отдельные ядерные частицы, одиночные события, тяжелые заряженные частицы, интегральные схемы (ИС), стойкость, линейные потери энергии, физическая модель.
1. Анашин, В. С. Средства контроля воздействия ионизирующих излучений космического пространства на РЭА космических аппаратов в области одиночных эффектов / В.С. Анашин // Датчики и системы. - 2009. - № 9. - С. 38-41.
2. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637.
3. Яньков, А. И. Сравнительный анализ процессов возникновения ионизационного тока в транзисторных ключах КМОП И КМОП КНИ-технологиях / А. И. Яньков, В. К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2010. - № 3. - С. 40-41.
4. Зольников, В. К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 27-30.
5. Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В. К. Зольников, В. А. Смерек, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 14-16.
6. Методы проектирования микросхем, стойких к одиночным событиям / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 17-20.
7. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9.
8. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В. П. Крюков, К. В. Зольников, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44.
9. Зольников, В. К. Методы верификации сложно-функциональных блоков в САПР для микросхем глубоко субмикронных проектных норм / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 16-24.
10. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60.
11. Алгоритмы конструкторского проектирования базовых элементов радиационно-стойких БИС / В. Е. Межов, П. Р. Машевич, Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2005. - № 1-2. - С. 125-126.
12. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291.
13. Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм / В.А. Скляр, К.В. Зольников, В.В. Лавлинский, К.И. Таперо, А.И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 4. - С. 72-76.
14. Криницкий, А. В. Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц : дис. … канд. техн. наук: 05.13.05 / А. В. Криницкий. - М., 2012. - 126 с.
15. Потапов, И. П. Одиночные события в КМОП-изделиях при воздействии отдельных заряженных частиц / И.П. Потапов, С.С. Васильев, Д.Г. Хорющин // Информационные технологии моделирования и управления. 2006. - № 8 (33). - С. 979-986.
