Россия
Россия
Рассмотрены современные математические модели дозовых эффектов ионизирующего излучения, описание видов космического излучения, виды отказов работы микросхем. Особенности развития современных средств автоматизации проектирования элементной базы космического назначения с учетом воздействия космического излучения.
САПР, микропроцессоры, эффекты космического воздействия, низко интенсивное ионизирующее излучение, процессы моделирования и проектирования, радиационно-стойкие микросхемы.
1. Ачкасов, В. Н. Средства автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементарной базы и унифицированных модулей вычислительных комплексов бортовых систем управления / В. Н. Ачкасов, В. М. Антимиров, П. Р. Машевич // Материалы Российской конференции «Стойкость-2005». - Москва, МИФИ. -2005. - С. 251.
2. Зыков, В. М. Моделирование и экспериментальные исследования долговременных изменений параметров кремниевых структур при ионизирующем воздействии : дис. … д-ра техн. наук : 01.04.10 / В. М. Зыков. Томск, 2002. - 250 с.
3. Скляр, В.А. Моделирование эффектов низкоинтенсивного ионизирующего излучения в СБИС / В. А. Скляр. В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2014. - №2. - С. 58-61.
4. Крюков, В. П. Моделирование изменения параметров ИС при воздействии дозы ИИ / В. П. Крюков // Системные проблемы качества, математического моделирования и информационных технологий: труды Международной научно-технической конференции. - М., 2002. - С.93-95.
5. Петров, А. С. Исследование влияния низкоинтенсивного облучения при повышенной температуре на деградацию БиКМОП операционных усилителей / А. С. Петров, К. И. Таперо, В. Н. Улимов // Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2018. - Вып.1. - С. 31-34.
6. Петров, А. С. Влияние повышенной температуры на деградацию БиКМОП операционных усилителей при низкоинтенсивном облучении / А. С. Петров, К. И. Таперо, В. Н. Улимов // 21-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» - «Стойкость-2018» : тезисы докладов. - Лыткарино,2018. - С. 93-94.
7. РДВ 319.03.37-2000. Изделия электронной техники. Микросхемы интегральные и полупроводниковые приборы. Инженерные методы ускоренных испытаний на стойкость к воздействию низко интенсивных протонного и электронного излучений космического пространства. - М., 2000. - 36 с.
8. РД 134-0196-2011. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика контроля стойкости к ионизирующим излучениям космического пространства в части дозовых эффектов, отбора и отбраковки биполярных электро-радио изделий. - М., 2011. - 40 c.
9. Романенко, А. А. Влияние ионизирующего излучения низкой интенсивности на биполярные изделия электронной техники / А. А. Романенко // Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2002. - Вып. 4. - С. 121-132.
10. Таперо, К. И. Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения : монография / К. И. Таперо, В. Н. Улимов, А. М. Членов. - М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 304 с.
