Россия
АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
Россия
Воронежская область, Россия
Россия
В статье приводится описание микросхем для систем сбора и обработки данных. Рассматриваются их основные параметры на примере аналогового препроцессора 1273ПВ10Т. Дано описание структурной схемы микросхем, функциональных блоков, режимов работы, схемы подключения. Последовательный порт позволяет использовать микросхему 1273ПВ10Т в каскадном включении.
Проектирование, аналоговые микросхемы, элементная база, последовательный порт, каскадное включение, микросхема 1273ПВ10Т.
1. Оценка адекватности моделирования воздействия тяжелых заряженных частиц на микросхемы / К. В. Зольников, А. И. Яньков, К. А. Чубур, А. С. Грошев, А. Л. Савченко // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 4. - С. 10-12.
2. Создание отечественной проектной среды разработки микроэлектронных систем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, П. Р. Машевич, И. П. Потапов //Вестник Воронежского государственного технического университета. - 2006. - Т. 2, № 3. - С. 9-11.
3. Зольников, В. К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 27-30.
4. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98.
5. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9.
6. Выбор значений параметров, определяющих кинетику накопления заряда в диэлектрике при радиационном воздействии / В. К. Зольников, В. П. Крюков, А. В. Ачкасов, В. А. Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 3. - С. 31-33.
7. Моделирование тока ионизации от воздействия тяжелых заряженных частиц при кластерных отказах структур микросхем / К.В. Зольников, А.И. Яньков, К.А. Чубур, А.С. Грошев, А.Л. Савченко // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость - 2016» : тезисы докладов 19 Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : МИФИ, 2016. - С. 111-112.
8. Схемотехнический и конструктивно-технологический базис ЭКБ космического назначения / В.К. Зольников, В.Э. Меерсон, О.В. Оксюта, Ю.К. Фортинский, К.А. Чубур, Ю.А. Чевычелов, А.И. Яньков // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем : материалы I Международной научно-практической конференции. - Тамбов, 2017. - С. 142-148.
