сотрудник
Минск, Беларусь
Целью статьи является ознакомление читателей с методом дифференциально-интерференционного контраста (ДИК) отражённого света, который относится к методам оптического контрастирования. Он служит для визуализации деталей структуры объектов, наблюдаемых с помощью оптической микроскопии. Метод основан на явлении интерференции поляризованного света и реализуется при использовании двоякопреломляющей призмы Номарского. При этом участки образца разной высоты окрашиваются в различные цвета с одновременным повышением разрешающей способности; получаемое изображение можно интерпретировать как трёхмерное изображение рельефа поверхности. На примерах показаны возможности использования ДИК в металлографии, а также в неразрушающем контроле.
радиационная обработка, линейный ускоритель, течеискание.
1. Анисович А. Г. Искусство металлографии: использование методов оптического контрастирования. - Весцi НАН Беларусi. Сер. фiз.-тэхн. навук. 2016. № 1. С. 36-42.
2. Кларк Э. Р., Эберхардт К. Н. Микроскопические методы исследования материалов. - М.: Техносфера, 2007. - 376 с.
3. Калитеевский Н. И. Волновая оптика. - М.: Высшая школа, 1995. - 463 c.
4. Колковский Ю. В., Концевой Ю. А., Груздов В. В. Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике. - М.: Техносфера, 2016. - 328 с.
5. Ishiwata H., Itoh M., Yatagai T. A new method of three-dimensional measurement by differential interference contrast microscope. - Optics Communications. 2006. V. 260. No. 1. Р. 117-126.
6. Noguchi A., Ishiwata H., Itoh M., Yatagai T. Optical sectioning in differential interference contrast microscopy. - Optics Communications 2009. V. 282. No. 16. Р. 3223-3230.
7. Araiedh F., Ducos F., Houas A., Chaoui N. Photodegradation mode of stearic acid crystal on heterogeneous anatase/amorphous titania films observed by differential interference contrast microscopy. - Applied Catalysis B: Environmental. 2016. V. 187. P. 350-356.
8. Lee S., Kang S. H. Fluorescent-free detection on nanobiochips based on wavelength-dependent single plasmonic nanoparticles by differential interference contrast microscopy. - Biosensors and Bioelectronics. 2014. V. 60. P. 45-51.
9. Guangming Ni, Lin Liu, Xiaohui Du, et al. Accurate AOI inspection of resistance in LCD Anisotropic Conductive Film bonding using differential Interference contrast. - Optik. 2017. V. 130. P. 786-796.
10. San Martín D., Palizdar Y., Cochrane R.C. et al. Application of Nomarski differential interference contrast microscopy to highlight the prior austenite grain boundaries revealed by thermal etching. - Materials characterization. 2010. V. 61. P. 584-588.
11. Pan J. Z., Zhu D. B. Mesoscopic details of crack tip deformation field by application of differential interference contrast method. - Theoretical and Applied Fracture Mechanics. 2004. V. 41. P. 147-162.
12. Анисович А. Г., Румянцева И. Н. Визуализация поверхности методом дифференциально-интерференционного контраста. - Литье и металлургия. 2013. №3(72). C.156-162.
13. Анисович А. Г., Румянцева И. Н. Практика металлографического исследования материалов. - Минск: Беларуская навука. 2013. - 221 с.
