В статье рассматривается методика функциональной проверки блока современной системы на кристалле. Рассмотрены основные этапы такой проверки. Приведены практические примеры реализации для двуядерной системы на кристалле, содержащей процессор обработки сигналов и набор периферийных устройств.
Функциональная верификация, система на кристалле, микропроцессор, спецификация, программа.
I. Введение
Современные системы на кристалле (СнК) являются сверхбольшими интегральными схемами (СБИС), обычно содержащими несколько процессорных ядер (RISC-процессор, процессор цифровой обработки сигналов, различные аппаратные ускорители), многоуровневую память для хранения данных программ, кэш-память, шины, сопроцессор прямого доступа к памяти (ПДП), порты ввода вывода и набор системных периферийных устройств. Разработка подобных систем на кристалле является чрезвычайно сложной задачей. При этом наиболее трудоёмкой и важной задачей является функциональная верификация разрабатываемой СнК. По данным [1, 3] она занимает от 60 до 90 % времени разработки проекта в зависимости от сложности СнК и наличия необходимых СФ-блоков, а ошибки, пропущенные при функциональном контроле, могут приводить к многомиллионным убыткам [2]. В данной статье рассмотрим методику функциональной проверки одного из СФ-блоков СнК К1867ВЦ3АФ.
1. Немудров, В. Системы на кристалле. Проектирование и развитие [Текст] / В. Немудров, Г.Мартин. - М. : Техносфера, 2004. - 216 с.
2. Потапов, И. П. Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий [Текст] : монография / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, К. И. Таперо. - Воронеж : ВГУ, 2007. - 165 с.
3. Фортинский, Ю. К. Создание подсистемы верификации сложных цифровых микросхем с учетом радиационного воздействия [Текст] : монография / Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников, М. В. Конарев. - Воронеж : ВГУ, 2011.- 207 с.
4. Микросхемы интегральные 1867ВЦ3Ф. Техническое описание. КФДЛ.431282.002ТО [Электронный ресурс]. - Режим доступа: www.niiet.ru/product/product.htm. - Загл. с экрана.
5. Vasudervan, S. Effective Functional Verification Principles and Processes / S. Vasudervan - Published by Springer, P.O. Box 17, 3300 AA Dordrecht, The Netherlands. - 2006. - 268 p.
