МЕТОД 3D МОДЕЛИРОВАНИЯ ИСПЫТАТЕЛЬНОГО КОМПЛЕКСА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ УСКОРИТЕЛЕЙ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
В статье оценивается метод 3D моделирования испытательного комплекса с использованием ускорителей на основе методов синтеза виртуальной реальности.

Ключевые слова:
САПР, 3D моделирование, синтез виртуальной реальности.
Текст

I. Введение

В настоящее время для оценки радиационной стойкости электронной компонентной базы необходимо выполнять ряд испытаний на стойкость к воздействию факторов с заданными характеристиками, которые формируют специальные установки на основе импульсных ускорителей, лазерных источников, ускорителей электронов, работающих в режиме тормозного излучения. Результаты оценки выполненных испытаний определяются специализированными устройствами как для источников на ускорителях, так и для лазерных и рентгеновских источников.

Однако на этапе проектирования такого рода испытаний они не могут быть учтены из-за отсутствия методов синтеза виртуальной реальности данных процессов.

 

Ввиду этого в данной работе предлагаются основы формирования 3D испытательного комплекса с использованием ускорителей на основе методов синтеза виртуальной реальности.

Список литературы

1. Скляр, В. А. Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм [Текст] / В. А. Скляр, К. В. Зольников, В. В. Лавлинский, К. И. Таперо, А. И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 4. - С. 72-76.

2. Кравцов, Е. В. Проблемы испытания радиоэлектронных систем на стойкость к воздействию мощных электромагнитных полей [Текст] / Е. В. Кравцов, В. В. Лавлинский // Телекоммуникации. - 2007. - №1. - С. 45-48.

3. Kravtsov, E. V. Problems of testing radioelectronic system for their resistance to powerful electromagnetic fields / E. V. Kravtsov, V. V.Lavlinskii // Telecommunications and Radio Engineering. - 2009. - T.68. - № 5. - P.445-450.

4. Горин, А. Н. Подход к разработке методического обеспечения оценки стойкости проектируемых радиоэлектронных систем к воздействию мощных электромагнитных полей [Текст] / А. Н. Горин, Е. В. Кравцов, В. В. Лавлинский // Вестник Воронежского государственного технического университета. - 2006. - Т.2. - №3. - С.90-95

5. Уткин, Д. Н. Математическая модель сложных функциональных блоков, функционирующих в условиях радиации [Текст] / Д. Н. Уткин, В. В. Лавлинский, В. А. Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 55-58.

6. Скляр, В. А. Обзор средств САПР для субмикронных СБИС [Текст] / В. А. Скляр, К. В. Зольников, И. В. Нагорный, В. В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 60-64.

7. Скляр, В. А. Обзор программ для субмикронных САПР [Текст] / В. А. Скляр, К. В. Зольников, В. В. Лавлинский, С. А. Евдокимова, В. И. Анциферова// Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 2. - С. 72-76.

8. Скляр, В. А. Виды и этапы верификационных процедур систем на кристалле [Текст] / В. А. Скляр, В. В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 4. - С. 61-63.

9. Лавлинский, В. В. Теоретические основы моделирования компонентов для систем автоматизации проектирования электронной базы на основе синтеза виртуальной реальности [Текст] // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 16-20.

10. Лавлинский, В. В. Анализ ячеек кристаллических решёток полупроводниковых материалов для синтеза виртуальной реальности при проектировании радиационно-стойких элементов электронной компонентной базы [Текст] // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 44-53.

11. Лавлинский, В. В. Теоретические основы моделирования проектируемых объектов электронной компонентной базы для синтеза виртуальной реальности в виде воздействий тяжёлыми ядерными частицами [Текст] // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 4. - С. 24-32.

12. Лавлинский, В. В. Теоретические исследования моделирования проектируемых объектов электронной компонентной базы для синтеза виртуальной реальности при воздействии тяжёлыми заряженными частицами [Текст] // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 4. - С. 33-35.

13. Лавлинский, В. В. Проектирование различных слоёв кристаллической решётки элементов с использованием методов объектно-ориентированного программирования [Текст] / В. В. Лавлинский, С. И. Лыков, А. С. Аушра // Моделирование систем и процессов. - 2014. - № 2. - С. 16-19.

14. Зольников, В. К. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР [Текст] / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т.4. - №4(16). - С.280-291.

15. Лавлинский, В. В. Теоретические основы моделирования проектируемых объектов электронной компонентной базы для синтеза виртуальной реальности в виде воздействий тяжёлыми заряженными частицами [Текст] / В. В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С.20-25.

16. Зольников, В. К. Оценка показателей надёжности технических систем при воздействии радиации [Текст] / В. К. Зольников, Д. М. Уткин, В. В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - №1 (10). - С.46-48.

17. Никифоров А. Ю. Базовая технология прогнозирования, оценки и контроля радиационной стойкости изделий микроэлектроники [Электронный ресурс] / А. Ю. Никифоров, П. К. Скоробогатов, М. Н. Стриханов, А. И. Чумаков, Ю. И. Борисов, Л. А. Синегубко, И. Б. Яшанин, А. А. Борисов, В. А. Телец, В. Н. Улимов // www.rg.ru/2009/10/28/premii-dok.html

18. Никифоров, А. Ю. Базовая технология прогнозирования, оценки и контроля радиационной стойкости изделий микроэлектроники [Электронный ресурс] / А. Ю. Никифоров, П. К. Скоробогатов, М. Н. Стриханов, А. И. Чумаков, Ю. И. Борисов, Л. А. Синегубко, И. Б. Яшанин, А. А. Борисов, В. А. Телец, В. Н. Улимов // М. : ФГБОУ ВПО «НИЯУ МИФИ». - www.yandex.ru/clck/jsredir

19. Захарченко, С. В. Распределённая модель релятивистского электронного потока [Электронный ресурс] / С. В. Захарченко, А. Г. Шеин // http://fep.tti.sfedu.ru/books/conferenc/pem2006/part2/249.pdf

Войти или Создать
* Забыли пароль?