In article assessment of resistance of chips to influence of heavy charged particles is considered, the test environment, material support of tests are described.
design automation, chips, firmness, heavy charged particles.
Оценка соответствия микросхем требованиям по стойкости к воздействию тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) проводилась в соответствии с программой методикой испытаний и по алгоритмам, представленным в [1, 2].
- получение экспериментальных данных для оценки соответствия порогового значения ЛПЭ для необратимых отказов в микросхемах заданным требованиям;
- определение зависимости уровней сбоеустойчивости изделий от ЛПЭ ионов.
Параметрами-критериями работоспособности и сбоеустойчивости являются параметры, указанные в табл. 1.
1. Zol´nikov, V. K. Vybor znacheniy parametrov, opredelyayushchikh kinetiku nakopleniya zaryada v dielektrike pri radiatsionnom vozdeystvii [Tekst] / V. K. Zol´nikov, V. P.Kryukov, V. N. Achkasov, V. A.Sklyar. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 3. - S. 24-26.
2. Zol´nikov, K. V. Raschet izmeneniya skhemotekhnicheskikh parametrov pri vozdeystvii nizkointensivnogo izlucheniya faktorov kosmicheskogo prostranstva [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. S. Groshev, K. A. Chubur. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 3. - S. 33-35.
