00875naa#a2200193#i#4500001001500000005001700015011001400032100004100046101000800087102000700095200027400102210005700376215001000433608004500443700006700488700006200555700004900617856001500666RU\\bibl\1210220240616022334.7##a1609-3178##a20160624b2016####ek#y0rusy0150####ca0#aRUS##aRU1#aИспользование методов световой микроскопии для анализа качества и надёжности изоляции кабелей среднего и высокого напряженияeЖурнальная статья1#aСанкт-ПетербургcООО СВЕНd2016##a5 с.##aЖурнальная статья2local#1aФедороваgВиктория  Александровна#1aОвсиенкоg Владимир  Леонидович#1aШуваловgМихаил  Юрьевич4#anaukaru.ru