TY  JOUR
TI  Оптимизация методов испытаний и алгоритмов оценки стойкости полевых транзисторов к различным видам радиации с применением перспективного испытательного оборудования
KW  Стойкость полевых транзисторов
KW  радиационное воздействие
KW  методы испытаний
KW  SEB-эффект
KW  отклики транзисторов
JO  Моделирование систем и процессов
AU  Ватуев, А.С.
AU  Шарапов, А.А.
AU  Озеров, А.И.
PY  2024
IS  17
PB  Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова