%0 Journal Article
%T Оптимизация методов испытаний и алгоритмов оценки стойкости полевых транзисторов к различным видам радиации с применением перспективного испытательного оборудования
%A Ватуев, А.С.
%A Шарапов, А.А.
%A Озеров, А.И.
%K Стойкость полевых транзисторов, радиационное воздействие, методы испытаний, SEB-эффект, отклики транзисторов
%J Моделирование систем и процессов
%D 2024
%N 17
%P 9
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова