TY  JOUR
TI  Оценка влияния структурных особенностей кристалла на стойкость ДМОП транзисторов к ионизирующему излучению
KW  Полевые транзисторы
KW  МОП
KW  ДМОП
KW  MOS
KW  DMOS
KW  критическая напряженность электрического поля
KW  стойкость
KW  ионизирующее излучение
KW  САПР TCAD.
JO  Моделирование систем и процессов
AU  Харченко, М.Э.
AU  Дорохов, В.А.
AU  Колесников, М.И.
PY  2022
IS  15
PB  Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова