%0 Journal Article
%T Повышение стойкости электронной компонентной базы к дозовым эффектам радиационного воздействия
%A Козюков, А.Е.
%A Зольников, К.В.
%A Мещеряков, С.Г.
%A Грошев, А.С.
%A Сысоев, Д.В.
%K Электронная компонентная база (ЭКБ), радиационное воздействие, дозовый эффект, микросхемы, схемотехника, интегральные схемы (ИС), ионизирующее излучение
%J Моделирование систем и процессов
%D 2021
%N 14
%P 6
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова