TY  JOUR
TI  Исследование возможностей применения установки MarSurf Xr 20 для фрактального анализа поверхности
KW  фрактальный анализ
KW  установка MarSurf XR 20
KW  сканирующий зондовый микроскоп
KW  метод Херста
KW  фрактальная размерность
JO  Журнал технических исследований
AU  Ивлева, Д.М.
AU  Бавыкин, О.Б.
PY  2019
IS  5
PB  Общество с ограниченной ответственностью «Научно-издательский центр ИНФРА-М»