%0 Journal Article
%T Исследование возможностей применения установки MarSurf Xr 20 для фрактального анализа поверхности
%A Ивлева, Д.М.
%A Бавыкин, О.Б.
%K фрактальный анализ, установка MarSurf XR 20, сканирующий зондовый микроскоп, метод Херста, фрактальная размерность
%J Журнал технических исследований
%D 2019
%N 5
%P 5
%I Общество с ограниченной ответственностью «Научно-издательский центр ИНФРА-М»