TY  JOUR
TI  Алгоритм моделирования работоспособности микросхем в условиях воздействия внешних факторов в подсистеме САПР ИЭТ
KW  САПР
KW  работоспособность микросхем
KW  надежность
KW  радиационная стойкость
JO  Моделирование систем и процессов
AU  Ачкасов, В.Н.
AU  Зольников, К.В.
PY  2014
IS  6
PB  Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова