%0 Journal Article
%T Алгоритм моделирования работоспособности микросхем в условиях воздействия внешних факторов в подсистеме САПР ИЭТ
%A Ачкасов, В.Н.
%A Зольников, К.В.
%K САПР, работоспособность микросхем, надежность, радиационная стойкость
%J Моделирование систем и процессов
%D 2014
%N 6
%P 3
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова