%0 Journal Article
%T Результаты испытаний сложных микросхем на воздействие тяжелых заряженных частиц
%A Яньков, А.И.
%A Меерсон, В.Э.
%A Зольников, К.В.
%A Крюков, В.П.
%K Облучение образцов ЭРИ, тиристорный эффект, события сбоев переключения, события одиночных функциональных сбоев.
%J Моделирование систем и процессов
%D 2016
%N 9
%P 2
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова