Modeling of systems and processesModeling of systems and processesМоделирование систем и процессов2219-0767642710.12737/12014Технические наукиТехнические наукиALGORITHMIC BASIS OF MODELING FAILURES IN DEEP-SUBMICRON TECHNOLOGIESАлгоритмическая основа моделирования отказов на глубоко-субмикронных технологияхЧубурКирилл АлександровичChuburK. A.ЯньковАндрей ИльичYankovA. Il'ichЗольниковКонстантин ВладимировичZolnikovKonstantin VladimirovichАчкасовАлександр ВладимировичAchkasovA. VladimirovichВоронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. МорозоваRUFSBE Institution of Higher Education Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. MorozovRUООО "НПП "Детектор"РоссияLLC «SPE Detector»Russian FederationВоронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. МорозоваРоссияVoronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. MorozovRussian FederationВоронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. МорозоваVoronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov0207201502072015811517https://naukaru.ru/en/nauka/article/6427/view
Предложен алгоритм оценки стойкости микросхем к одиночным событиям. Рассчитывается пространственное и временное распределение воздействия частиц на микросхему . Результатом является карта отказов СБИС как временная последовательность
An algorithm for evaluation of resistance to single chip events. Calculate the spatial and temporal distribution of the effect of the particles on the chip. The result is a map of VLSI failure as a temporary sequence
В работе предложен алгоритм оценки стойкости изделий к одиночным событиям [1, 2]. Данный алгоритм (рис. 1) направлен на выявление карты отказов, которые вызывают в СБИС воздействие потоков тяжелых заряженных частиц.Вначале задается поток частиц и линейные потери энергии, которые соответствуют данным частицам. Затем микросхемы разбивается на участки с шагом, который соответствует половине проектной нормы. На следующем этапе проектировщик определяет кластерные участки, которые будут соответствовать отказам изделий. Такой выбор проводится из опыта схемотехнических работ. При этом выбор определяется топологией элементов в виде карты соответствия отказов. Проектировщик рассматривает топологическую карту всего изделия и накладывает на нее точки попадания частиц. Результатом такой работы является определение кластеров отказов – фактически устанавливается набор кластеров, состоящий из нескольких ячеек.
Зольников, К. В. Определение вероятности безотказной работы при структурной оптимизации элементов сложных функциональных блоков в САПР [Текст] / К. В. Зольников, В. А. Смерек, А. И. Яньков, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский, А. В. Ачкасов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 35-37.Zol´nikov, K. V. Opredelenie veroyatnosti bezotkaznoy raboty pri strukturnoy optimizatsii elementov slozhnykh funktsional´nykh blokov v SAPR [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Smerek, A. I. Yan´kov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy, A. V. Achkasov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 3. - S. 35-37.Смерек, В. А. Микроконтроллер 1830ВЕ32У - 8-разрядная архитектура MSC-51 в радиационно-стойком исполнении [Текст] / В. А. Смерек, А. И. Яньков, А. В. Крюков // Всероссийская научно-техническая конференция "Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС)" : сборник трудов. - 2010. - № 1. - С.279-282.Smerek, V. A. Mikrokontroller 1830VE32U - 8-razryadnaya arkhitektura MSC-51 v radiatsionno-stoykom ispolnenii [Tekst] / V. A. Smerek, A. I. Yan´kov, A. V. Kryukov. Vserossiyskaya nauchno-tekhnicheskaya konferentsiya "Problemy razrabotki perspektivnykh mikro- i nanoelektronnykh sistem (MES)" : sbornik trudov. - 2010. - № 1. - S.279-282.