Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 34850 10.12737/2219-0767-2020-12-4-73-77 Технические науки Технические науки DETERMINATION OF STRUCTURES IN CHIPS THAT ARE SENSITIVE TO COSMIC PARTICLES Определение структур в микросхемах, чувствительных к воздействию космических частиц Савченко Андрей Леонидович Savchenko Andrey Леонидович Кулай А. Ю. Kulay A. Ю. Струков Иван Игоревич Strukov I. I. Чубур Кирилл Александрович Chubur K. A. Гречаный Сергей Владимирович Grechanyy Sergey Vladimirovich АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Россия АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Russian Federation АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Россия АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Russian Federation Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова RU FSBE Institution of Higher Education Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov RU 12 4 73 77 https://naukaru.ru/en/nauka/article/34850/view

В статье рассматривается влияние эффектов масштабирования на стойкость интегральных схем (ИС) при воздействии космических частиц. Выделяют два направления масштабирования: уменьшение топологических размеров элементов ИС и оптимизация энергопотребления за счет конструктивно-технологических решений. В работе проанализированы основные эффекты (SEU, SEL, SEHE, SEGR и MBU) на чувствительность ИС к одиночным событиям (ОС).

The article considers the influence of scaling effects on the stability of integrated circuits (IC) under the influence of cosmic particles. There are two directions of scaling: reduction of topological dimensions of IC elements and optimization of energy consumption due to design and technological solutions. The paper analyzes the main effects (SEU, SEL, SEHE, SEGR and MBU) on the sensitivity of the IC to single events (SE)

 тяжелые заряженные частицы одиночные события интегральные схемы стойкость степень интеграции эффект масштабирования heavy charged particles single events integrated circuits stability degree of integration scaling effect

Скляр, В. А. Моделирование низкоинтенсивного воздействия космического пространства / В. А. Скляр, В. К. Зольников, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2016. - Т. 9, № 2. - С. 71-74. Sklyar, V. A. Modelirovanie nizkointensivnogo vozdeystviya kosmicheskogo prostranstva / V. A. Sklyar, V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2016. - T. 9, № 2. - S. 71-74. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60. Zol'nikov, V. K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V. K. Zol'nikov, V. N. Achkasov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2004. - № 1-2. - S. 57-60. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637. Потапов, И. П. Одиночные события в КМОП-изделиях при воздействии отдельных заряженных частиц / И. П. Потапов, С. С. Васильев, Д. Г. Хорющин // Информационные технологии моделирования и управления. 2006. - № 8 (33). - С. 979-986. Potapov, I. P. Odinochnye sobytiya v KMOP-izdeliyah pri vozdeystvii otdel'nyh zaryazhennyh chastic / I. P. Potapov, S. S. Vasil'ev, D. G. Horyuschin // Informacionnye tehnologii modelirovaniya i upravleniya. 2006. - № 8 (33). - S. 979-986. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K. V. Zol'nikov, V. A. Sklyar, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. - № 2. - S. 5-9. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В. П. Крюков, К. В. Зольников, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44. Kryukov, V. P. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya v SAPR / V. P. Kryukov, K. V. Zol'nikov, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 4. - S. 41-44. Зольников, В. К. Методы верификации сложно-функциональных блоков в САПР для микросхем глубоко субмикронных проектных норм / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 16-24. Zol'nikov, V. K. Metody verifikacii slozhno-funkcional'nyh blokov v SAPR dlya mikroshem gluboko submikronnyh proektnyh norm / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 16-24. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48. Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291. Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. - 2014. - T. 4, № 4 (16). - S. 280-291. Методы проектирования микросхем, стойких к одиночным событиям / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 17-20. Metody proektirovaniya mikroshem, stoykih k odinochnym sobytiyam / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 3. - S. 17-20. Моделирование воздействия ТЗЧ в активных областях эле¬ментов микросхем при проектировании / К. В. Зольников, В. А. Смерек, А. В. Ачкасов, В. А. Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2014. - № 1. - С. 15-17. Modelirovanie vozdeystviya TZCh v aktivnyh oblastyah ele¬mentov mikroshem pri proektirovanii / K. V. Zol'nikov, V. A. Smerek, A. V. Achkasov, V. A. Sklyar // Modelirovanie sistem i processov. - 2014. - № 1. - S. 15-17. Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В.К. Зольников, В.А. Смерек, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 14-16. Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya i obespecheniya zaschity tipovyh KMOP elementov v processe proektirovaniya / V.K. Zol'nikov, V.A. Smerek, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 3. - S. 14-16. Зольников, В. К. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 25-30. Zol'nikov, V. K. Prakticheskie metodiki vypolneniya verifikacii proektirovaniya mikroshem / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 25-30. Ачкасов, А. В. Создание отечественной проектной среды разработки микроэлектронных систем / А.В. Ачкасов, A.И. Яньков // Приводная техника. - 2006. - № 5. - С. 28-30. Achkasov, A. V. Sozdanie otechestvennoy proektnoy sredy razrabotki mikroelektronnyh sistem / A.V. Achkasov, A.I. Yan'kov // Privodnaya tehnika. - 2006. - № 5. - S. 28-30.