Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 33829 10.12737/2219-0767-2019-12-3-48-53 Технические науки Технические науки INVESTIGATION OF LINEAR VOLTAGE STABILIZERS FOR RESISTANCE TO SPECIAL FACTORS Исследование линейных стабилизаторов напряжения на стойкость к воздействию специальных факторов Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Яньков Андрей Ильич Yankov A. Il'ich Чубур Кирилл Александрович Chubur K. A. Кулай А. Ю. Kulay A. Ю. Крюков В. П. Kryukov V. П. Струков Иван Игоревич Strukov I. I. Гречаный С. А. Grechanyy S. A. Евдокимова Светлана Анатольевна Evdokimova Svetlana Anatol'evna

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Ягодкин Александр Сергеевич Yagodkin A. Sergeevich Анциферова Валентина Ивановна Antsiferova V. Ivanovna Квасов Олег Николаевич Kvasov Oleg Nikolaevich Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov ООО "НПП "Детектор" Россия LLC «SPE Detector» Russian Federation Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова RU FSBE Institution of Higher Education Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov RU АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Россия АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Russian Federation АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Россия АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Russian Federation 12 3 48 53 https://naukaru.ru/en/nauka/article/33829/view

В работе рассмотрены вопросы стойкости линейных стабилизаторов напряжения к воздействию специальных факторов. Описаны проводимые исследования, приведены электрические схемы при измерении выходного напряжения и тока микросхем. Также рассматриваются расчетные оценки стойкости линейных стабилизаторов напряжения к воздействию различных специальных факторов.

The paper deals with the issues of resistance of linear voltage stabilizers to the influence of special factors. The conducted researches are described, electric schemes at measurement of output voltage and current of chips are resulted. The calculated estimates of the resistance of linear voltage stabilizers to the influence of various special factors are also considered

 Стойкость стабилизатор напряжения радиоэлектроника время потери работоспособности интегральные микросхемы resistance voltage stabilizer radio electronics time of loss of efficiency integrated circuits

Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В.П. Крюков, К.В. Зольников, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44. Kryukov, V. P. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya v SAPR / V.P. Kryukov, K.V. Zol'nikov, S.A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 4. - S. 41-44. Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. - С. 71-72. Obobschennaya metodika proektirovaniya tehnicheskih blokov vysokonadezhnyh programmno-tehnicheskih kompleksov special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, D.M. Utkin, S.A. Evdokimova, V.I. Anciferova // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost'-2014» : sbornik tezisov dokladov 17-y Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. - M. : Nacional'nyy issledovatel'skiy yadernyy universitet «MIFI», 2014. - S. 71-72. Зольников, К. В. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения / К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 3-4. - С. 20-27. Zol'nikov, K. V. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya / K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 3-4. - S. 20-27. Модель радиационных эффектов воздействия тяжелых заряженных частиц в КМОП-элементах микросхем / К.В. Зольников, К.И. Таперо, В.А. Смерек, Т.П. Беляева // Программные продукты и системы. - 2011. - № 3. - С. 4. Model' radiacionnyh effektov vozdeystviya tyazhelyh zaryazhennyh chastic v KMOP-elementah mikroshem / K.V. Zol'nikov, K.I. Tapero, V.A. Smerek, T.P. Belyaeva // Programmnye produkty i sistemy. - 2011. - № 3. - S. 4. Методы проектирования микросхем, стойких к одиночным событиям / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 17-20. Metody proektirovaniya mikroshem, stoykih k odinochnym sobytiyam / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 3. - S. 17-20. Данилов, В. П. Исследование совместного действия импульсов напряжения и ионизации на стабилизатор напряжения / В. П. Данилов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2010. - № 2. - С. 56-61. Danilov, V. P. Issledovanie sovmestnogo deystviya impul'sov napryazheniya i ionizacii na stabilizator napryazheniya / V. P. Danilov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2010. - № 2. - S. 56-61. Методы создания сбоеустойчивых микросхем / В.К. Зольников, А.Ю. Кулай, А.Л. Савченко, И.И. Струков, К.А. Чубур, Ю.А. Чевычелов, А.И. Яньков // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов. - Тамбов : ТГТУ, 2018. - С. 219-221. Metody sozdaniya sboeustoychivyh mikroshem / V.K. Zol'nikov, A.Yu. Kulay, A.L. Savchenko, I.I. Strukov, K.A. Chubur, Yu.A. Chevychelov, A.I. Yan'kov // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah : sbornik trudov. - Tambov : TGTU, 2018. - S. 219-221. Зольников, В. К. Моделирование работоспособности микросхем на различных иерархических уровнях описания в САПР / В.К. Зольников, А.Л. Савченко, А.Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 30-39. Zol'nikov, V. K. Modelirovanie rabotosposobnosti mikroshem na razlichnyh ierarhicheskih urovnyah opisaniya v SAPR / V.K. Zol'nikov, A.L. Savchenko, A.Yu. Kulay // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 30-39. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48. Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 25-30. Prakticheskie metodiki vypolneniya verifikacii proektirovaniya mikroshem / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 25-30. Беляева, Т.П.Алгоритм управления рисками проектов планирования и реализации электронной компонентной базы / Т.П. Беляева, В.К. Зольников, О.Н. Черкасов // Гетеромагнитная микроэлектроника. - 2011. - № 11. - С. 116-124. Belyaeva, T.P.Algoritm upravleniya riskami proektov planirovaniya i realizacii elektronnoy komponentnoy bazy / T.P. Belyaeva, V.K. Zol'nikov, O.N. Cherkasov // Geteromagnitnaya mikroelektronika. - 2011. - № 11. - S. 116-124. Зольников, В. К. Моделирование сбора заряда при воздействии тяжелых заряженных частиц в КМОП элементах микросхем / В. К. Зольников, И. П. Потапов, К.И. Таперо // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2010. - № 1. - С. 275-278. Zol'nikov, V. K. Modelirovanie sbora zaryada pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic v KMOP elementah mikroshem / V. K. Zol'nikov, I. P. Potapov, K.I. Tapero // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2010. - № 1. - S. 275-278. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291 Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. - 2014. - T. 4, № 4 (16). - S. 280-291