Россия
Рассматриваются вопросы преобразования базисов схемотехнического в функционально-логический при проектировании микросхем.
САПР, схемотехнический уровень, функциональный уровень, микросхема.
1. Конарев, М.В. Учет радиационного воздействия при верификации объектов проектирования на разных этапах маршрута проектирования [Текст] / М.В. Конарев. // Моделирование систем и процессов. - Воронеж: Издательство типографии Воронежского государственного университета. - 2009. - № 1,2. - С. 36-42.
2. Зольников, В.К. Формирование библиотек типовых элементов и СФ блоков [Текст] / В.К. Зольников. //Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 3. - С. 27-29.
3. Зольников, К.В. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения [Текст] / К.В. Зольников //Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 3-4. - С. 20-27.
4. Зольников, В.К. Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования [Текст] / В.К.Зольников, В.А.Смерек, В.И.Анциферова, С.А.Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 14-16.
5. Зольников, К.В. Основы построения средств верификации блоков ОЗУ микропроцессора с системой команд TMS320C50 [Текст] / К. В. Зольников //Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 1-2. - С. 31-35
6. Ачкасов, В.Н. Математическое обеспечение преобразования элементов со схемотехнического на функционально-логический уровень с учетом радиации [Текст] / В.Н. Ачкасов, М.В.Конарев,В.А. Фиронов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 2. - С. 5 - 8.
